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分立器件静态参数测试仪/系统

发布人:18092643147 时间:2021-11-26 来源:工程师 发布文章

DCT1401

分立器件静态参数测试仪/系统

DCT1401分立器件静态参数测试仪/系统能测试很多电子元器件的静态直流参数(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on))。

测试种类覆盖 7 大类别26分类,包括“二极管类”“三极管类(如BJTMOSFETIGBT)”“保护类器件”“稳压集成类”“继电器类”“光耦类”“传感监测类”等品类的繁多的电子元器件。

高压源标配1400V(选配2KV),高流源标配100A(选配40A,200A

控制极/栅极电压40V,栅极电流10mA

分辨率最高至1mV / 1nA,精度最高可至0.5%

DCT1401分立器件静态参数测试仪/系统适用于分立器件测试还可测试“结电容”,支持“脉冲式一键加热”和“分选机连接”

*图片2.png

第一部分:规格&环境

1.1产品信息

产品型号:DCT1401

产品名称:分立器件静态参数测试仪/系统

1.2物理规格

主机尺寸:深660*430*210(mm)

主机重量:<35kg

主机颜色:白色系

1.3电气环境

主机功耗:<300W

海拔高度:海拔不超过 4000m

环境要求:-20℃~60℃(储存)、5℃~50℃(工作);

相对湿度: 20%RH75%RH (无凝露,湿球温度计温度 45℃以下)

大气压力:86Kpa106Kpa

防护条件:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等;

电网要求:AC220V、±10%50Hz±1Hz

工作时间:连续;

第二部分:应用场景和产品特点一、应用场景

1测试分析(功率器件研发设计阶段的初始测试,主要功能为分立器件测试)

2失效分析(对失效器件进行测试分析,查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案)

3选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)

4来料检验(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)

5量产测试(可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备,实现规模化、自动化测试)

6替代进口DCT1401分立器件静态参数测试仪/系统可替代同级别进口产品)

*应用场景.jpg

二、产品特点

1、程控高压源10~1400V,提供2000V选配;

2、程控高流源1uA~100A,提供40A,200A选配;

3、驱动电压10mV~40V

4、控制极电流10uA~10mA

516ADC100K/S采样速率;

6、自动识别器件极性 NPN/PNP

7、分立器件测试,四线开尔文连接保证加载测量的准确

8、通过 RS232 接口连接校准数字表,对系统进行校验

9、不同的封装形式提供对应的夹具和适配器(如TO220SOP-8DIPSOT-23等等)

10、分立器件静态参数测试仪/系统能测很多电子元器件(如二极管、三极管、MOSFETIGBT、可控硅、光耦、继电器等等);

11、分立器件静态参数测试仪/系统能实现分立器件测试(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on)

12、结电容参数也可以测试,诸如CkaCissCrssCoss

13、脉冲电流自动加热功能,方便高温测试,无需外挂升温装置;

14Prober 接口、Handler 接口可选(16Bin),连接分选机最高效率1h/9000个;

15、分立器件静态参数测试仪/系统在各大电子厂的IQC、实验室有着广泛的应用;

第三部分:产品介绍3.1、产品介绍

DCT1401分立器件静态参数测试仪/系统 是由我公司技术团队结合分立器件静态参数测试仪/系统的多年经验,以及众多国内外测试系统产品的熟悉了解后,完全自主开发设计的全新一代分立器件静态参数测试仪/系统”。软件及硬件均由团队自主完成。这就决定了这款产品的功能性和可靠性能够得到持续完善和不断的提升。

 

分立器件静态参数测试仪/系统脉冲信号源输出方面,高压源标配1400V(选配2KV),高流源标配100A(选配40A,200A)栅极电压40V,栅极电流10mA,分辨率最高至1mV / 30pA,精度最高可至0.5%。程控软件基于Lab VIEW平台编写,填充式菜单界面。采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。产品可测试 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 7大类26分类的电子元器件。涵盖电子产品中几乎所有的常见器件。无论电压电流源还是功能配置都有着极强的扩展性。

 

产品为桌面放置的台式机结构,由测试主机和程控电脑两大部分组成。外挂各类夹具和适配器,还能够通过Prober 接口、Handler 接口可选(16Bin)连接分选机和机械手建立工作站,实现快速批量化测试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验”“失效分析”“选型配对”“量产测试”等不同场景。

 

分立器件静态参数测试仪/系统产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常优秀的表现。创新的“点控式夹具”让操作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更高。测试数据可保存为EXCEL文本,方便快捷的完成分立器件测试。

3.2、人机界面(DCT1401分立器件静态参数测试仪/系统)

*


 

第四部分:功能配置4.1配置选项

DCT1401分立器件静态参数测试仪/系统的功能配置如下

*功能配置.jpg

4.2适配器选型

DCT1401分立器件静态参数测试仪/系统的适配器有如下

*适配器选项01.jpg

4.3测试种类及参数

DCT1401分立器件静态参数测试仪/系统的测试种类和参数如下

(1)二极管类:二极管  Diode

KelvinVrrmIrrmVf,△Vf,△VrrmCkaTr(选配);

(2)二极管类:稳压二极管  ZDZener Diode

KelvinVzlrVf,△Vf,△VzRozlzmCka

(3)二极管类:稳压二极管  ZDZener Diode

KelvinVzlrVf、△Vf、△VzRozlzmCka

(4)二极管类:三端肖特基二极管SBDSchottkyBarrierDiode

Kelvin Type_ident Pin_test VrrmIrrmVf、△VfV_VrrmI_Irrm、△VrrmCkaTr(选配);

(5)二极管类:瞬态二极管  TVS

Kelvin Vrrm IrrmVf、△Vf、△Vrrm Cka

(6)二极管类:整流桥堆

Kelvin VrrmIrrmIr_acVf、△Vf、△Vrrm Cka

(7)二极管类:三相整流桥堆

Kelvin Vrrm IrrmIr_acVf、△Vf、△VrrmCka

(8)三极管类:三极管

Kelvin Type_identPin_chk V(br)cbo V(br)ceo V(br)ebo IcbolceoIeboHfeVce(sat)Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo VbelcmVsd Ccbo CcesHeaterTr (选配)、Ts(选配)、Value_process

(9) 三极管类:双向可控硅

KelvinType_identQs_chkPin_testIgtVgtVtmVdrmVrrmVdrm rrmIrrmIdrmIrrm_drmIhILC_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm

(10)三极管类:单向可控硅

KelvinType_identQs_chkPin testlgtVgtVtmVdrm VrrmIHIL、△VdrmVrrmVtm

(11)三极管类:MOSFET

Kelvin Type_identPin_testVGS(th) V(BR)Dss Rds(on) Bvds_rz、△BvdsGfsIgssldss Idss zero Vds(on)VsdCissCossCrssBvgs ld_lim HeaterValue_proces、△Rds(on)

(12)三极管类:双MOSFET

KelvinPin_chkIc_fx_chkType_identVgs1(th)VGs2(th)VBR)Dss1VBR)Dss2Rds1(on)Rds2(on)Bvds1 rzBvds2_rzGfs1Gfs2lgss1lgss2Idss1Idss2Vsd1Vsd2CissCossCrss

(13)三极管类:JFET

KelvinVGS(off )V(BR)DssRds(on)Bvds_rzGfslgssIdss(off)Idss(on)vds(on)VsdCissCrssCoss

(14)三极管类:IGBT

KelvinVGE(th)V(BR)CESVce(on)GfelgeslcesVfCissCossCrss

(15)三极管类:三端开关功率驱动器

KelvinVbb(AZ)Von(CL)RsonIbb(off)Il(lim)CossFun_pin_volt

(16)三极管类:七端半桥驱动器

Kelvinlvs(off)lvs(on)Rson_hRson_llinIinhls_VoltSr_volt

(17)三极管类:高边功率开关

KelvinVbb(AZ)Von(CL)RsonIbb(off)ll(Iim)CossFun_pin_volt

(18)保护类:压敏电阻

KelvinVrrmVdrmIrrmIdrmCka、 △Vr ;

(19)保护类:单组电压保护器

Kelvin VrrmVdrmIrrmIdrmCka、△Vr

(20)保护类:双组电压保护器

KelvinVrrmVdrmIrrmIdrmCka、△Vr

(21)稳压集成类:三端稳压器

Kelvin Type_ident Treg_ix_chk Vout Reg_LineReg_LoadIBIB_IRoz、△IBVDISCMax_loRoExt _SwIc_fx_chk

(22)稳压集成类:基准ICTL431

KelvinVref、△VreflrefIminloffZkaVka

(23)稳压集成类:四端稳压

KelvinType_identTreg_ix_chkVoutReg_LineReg_LoadIBIB_IRoz、△lBVDIscMax_loRoExt_SwIc_fx_chk

(24)稳压集成类:开关稳压集成器

选配;

(25)继电器类:4脚单刀单组、5脚单刀双组、8脚双组双刀、8脚双组四刀、固态继电器

KelvinPin_chkDip6_type_identVfIrVlIlIftRonTon(选配)、Toff(选配);

(26)光耦类:4脚光耦、6脚光耦、8脚光耦、16脚光耦

KelvinPin_chkVfIrBvceoBvecoIceoCtrVce(sat)TrTf

(27)传感监测类:

电流传感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(选配);

霍尔器件(MT44XX系列、A12XX系列)(选配);

电压监控器(选配);

电压复位IC(选配);

分立器件测试

第五部分:性能指标

DCT1401分立器件静态参数测试仪/系统的性能指标如下

5.1电流/电压源VIS自带VI测量单元

1)加压(FV)

量程±40V分辨率19.5mV精度±1% 设定值±10mV

量程±20V分辨率10mV精度±1% 设定值±5mV

量程±10V分辨率5mV精度±1% 设定值±3mV

量程±5V分辨率2mV精度±1% 设定值±2mV

量程±2V分辨率1mV精度±1% 设定值±2mV

2)加流(FI)

量程±40A 分辨率19.5mA精度±2% 设定值±20mA

量程±4A 分辨率1.95mA精度±1% 设定值±2mA

量程±400mA分辨率1195uA精度±1% 设定值±200uA

量程±40mA分辨率119.5uA精度±1% 设定值±20uA

量程±4mA分辨率195nA精度±1% 设定值±200nA

量程±400uA分辨率19.5nA精度±1% 设定值±20nA

量程±40uA分辨率1.95nA精度±1% 设定值±2nA

说明:电流大于1.5A自动转为脉冲方式输出,脉宽范围:300us-1000us可调

3)电流测量(MI)

量程±40A分辨率1.22mA精度±1% 读数值±20mA

量程±4A分辨率122uA精度±0.5% 读数值±2mA

量程±400mA分辨率12.2uA精度±0.5% 读数值±200uA

量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 读数值±20uA

量程±4mA分辨率122nA精度±0.5% 读数值±2uA

量程±400uA分辨率12.2nA精度±0.5% 读数值±200nA

量程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 读数值±20nA

4)电压测量(MV)

量程±40V分辨率1.22mV精度±1% 读数值±20mV

量程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 读数值±2mV

量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 读数值±200uV

量程±5V分辨率1.22uV 精度±0.5% 读数值±20uV

5.2数据采集部分VM

16ADC100K/S采样速率

1)电压测量(MV)

量程±2000V分辨率1.22mV精度±1%读数值±20mV

量程±100V分辨率122uV精度±0.5%读数值±2mV

量程±10V分辨率12.2uV精度±0.5%读数值±200uV

量程±1V分辨率1.22uV精度±0.5%读数值±20uV

2)漏电流测量(MI)

量程±100mA分辨率30uA精度±1%读数值±30uA

量程±10mA分辨率3uA精度±1%读数值±3uA

量程±1mA分辨率300nA精度±1%读数值±300nA

量程±100uA分辨率30nA精度±1%读数值±30nA

量程±10uA分辨率3nA精度±1%读数值±10nA

量程±1uA 分辨率300pA精度±1%读数值±10nA

量程±100nA分辨率30pA精度±1%读数值±5nA

3)电容容量测量(MC)

量程6nF分辨率10PF精度±5%读数值±50PF

量程60nF分辨率100PF精度±5%读数值±100PF

5.3高压源HVS(基本)12DAC

1)加压(FV)

量程1400V/5mA分辨率30.5mV精度±0.5%设定值±500mV

量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.5%设定值±500mV

量程40V/50mA分辨率30.5mV精度±0.5%设定值±500mV

2)加流(FI)

量程10mA分辨率4.88uA 精度±2%设定值±10uA

量程2mA分辨率488nA精度±1%设定值±2uA

量程200uA分辨率48.8nA精度±1%设定值±200nA

量程20uA分辨率4.88nA精度±1%设定值±20nA

量程2uA分辨率488pA精度±2%设定值±10nA

DCT1401分立器件静态参数测试仪/系统能测很多电子元器件如二极管、三极管、MOSFETIGBT、可控硅、光耦、继电器等等产品广泛的应用在院所高校、封测厂、电子厂......

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赵女士  市场部 · 经理 / 18092643147

西安天光测控技术有限公司   www.xatgck.com

西安市高新区锦业路12号(非收件地址)  710076

+86-029-87309001   xatgck_mailbox@163.com

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导 体 器 件 电 学 检 测 !  研发、生产、销售晶体管图示仪,半导体分立器件测试筛选系统。Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOS , DIODE , BJT , SCR的电参数及可靠性和老化测试。静态单脉冲(包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数)动态双脉冲(包括 Trr , Qg , Rg , FRD , UIS , SC , Cxss , RBSOA 等)环境老化测试(包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等)热特性测试(包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等)各类全系列测试设备

 

 


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