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片内相位测量工具模拟光刻机

  • 关键字:片内相位测量 模拟光刻机采用特殊照明方式的高/超高数值孔径(NA)的193nm光刻机和相位移掩膜版(PSM),使得光刻分辨率的极限达到了32nm节点。不利的因素是掩膜的复杂度正在以指数级递增,而业界又迫切需要
  • 关键字: 相位测量  模拟  光刻机    
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