首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> MCU

MCU 文章 进入MCU技术社区

基于主从式双处理器的光纤比色测温仪软件设计

  • 摘要:   介绍一种基于DSP和MCU双处理器的内调制光纤比色测温仪的设计原理。测温仪以AT89C55和TMS320F206为核心,对内调制光电探测器进行线性补偿和温度补偿,并加入比辐射率的修正。本系统能够对环境温度变化大、周围环境恶劣的高温物体进行高精度的温度测量。   在冶金、钢铁、建筑材料、化工等众多行业中,温度是确保顺利生产和质量控制的重要参数。温度测量直接关系到产品的质量,关系到生产成本。熔融状态下,钢、铁温度在1200℃以上,主要测量方法有接触式的金属热电偶温度计和非接触式的辐射温
  • 关键字: DSP  MCU  从式双处理器  
共1条 1/1 1

MCU介绍

您好,目前还没有人创建词条MCU!
欢迎您创建该词条,阐述对MCU的理解,并与今后在此搜索MCU的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473