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SOC芯片设计与测试

• 　　摘要：SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂，在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例，在其设计、测试和可制造性等方面进行研究，并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。 关键词：单芯片系统；面向测试设计；面向制造设计；位失效图；自动测试设备     引言     以往的系统设计是将CPU，DSP，PLL，ADC，DAC或Memory等电路设计成IC后，再加以组合变成完整的系统，但现今的设计方式是
• 关键字： SOC  单芯片系统  面向测试设计  面向制造设计  位失效图  自动测试设备