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边界扫描与电路板测试技术

• 摘 要： 本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用。介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点。关键词： 边界扫描测试；JTAG；电路板测试；可测试性设计引言电子器件的生产商和电子产品的制造商都在倾向于采用最新的器件技术，如BGA、CSP(芯片规模封装)、TCP(倒装芯片封装)和其它更小的封装，以提供更强的功能、更小的体积，并节省成本。电路板越来越密、器件越来越复杂、电路性能要求越来越苛刻，越来越难的接入问题导致了工业标准
• 关键字： JTAG  边界扫描测试  电路板测试  可测试性设计  PCB  电路板