- 本文主要分析了超结结构的功率MOSFET的输出电容以及非线性特性的表现形态，探讨了内部P柱形成耗尽层及横向电场过程中，耗尽层形态和输出电容变化的关系，最后讨论了新一代超结技术工艺采用更小晶胞单元尺寸，更低输出电容转折点电压，降低开关损耗，同时产生非常大的du/dt和di/dt，对系统EMI产生影响。
- 关键字：
202008 功率 MOSFET 超结结构 输出电容 横向电场
超结结构介绍
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