首页　 资讯　 商机 　 下载　 拆解 　 高校　 招聘 　 杂志　 会展　 EETV　 百科 　 问答　 电路图　 工程师手册 　 Datasheet　 100例 　 活动中心　 E周刊阅读 　 样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> 测试基础

测试基础 文章 进入测试基础技术社区

IC测试原理解析(第四部分―射频/无线芯片测试基础)

  • 芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是最后一章。第一章介绍了芯片测试的基本原理，第二章介绍了这些基本原理在存储器和逻辑芯片的测试中的应用，第三章介绍了
  • 关键字： IC测试  原理  射频  测试基础    

电路板测试基础

  • 一、为什么要关心供电质量?在办公室和家里的“单相”供电环境里，总希望有持续不断的220V电源为电路中的设备供电。事实上，电压是持续变化的。为更好地理解电能质量，可以用路上行驶的汽车做比喻：道路质量
  • 关键字： 电路板  测试基础    

IC测试原理解析(第四部分―射频/无线芯片测试基础

  • 芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是最后一章。第一章介绍了芯片测试的基本原理，第二章介绍了这些基本原理在存储器和逻辑芯片的测试中的应用，第三章介绍了
  • 关键字： IC测试  原理  射频  测试基础    
共3条 1/1 1

测试基础介绍

您好，目前还没有人创建词条测试基础!
欢迎您创建该词条，阐述对测试基础的理解，并与今后在此搜索测试基础的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案：1101082052    京公网安备11010802012473