- 2013年6月3-5日，第50届电子设计自动化大会(Design Automation Conference, DAC 2013)在美国Austin举行，概伦电子科技有限公司(ProPlus Electronics Co., Ltd.)在本次大会中成功展示了其业界领先的产品和技术解决方案。继2011和2012年参展DAC连续获得热烈的反响和好评后，概伦电子在今年的DAC大会上倍受行业的关注，参展取得了巨大的成功。
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概伦 仿真器 SPIC
- 概伦电子科技有限公司(ProPlus Electronics Co., Ltd.)近日在上海浦东假日酒店举办了主题为“用于提升IC设计竞争力的良率导向设计技术”研讨会，来自集成电路制造企业、IC设计公司、高校与研究机构等近一百五十位嘉宾出席了研讨会，共同分享了来自概伦电子、中芯国际和IBM专家带来的六大精彩专题演讲。
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概伦 IC Process Variation
- 概伦电子科技有限公司今日宣布推出其良率导向设计(DFY)平台的新产品NanoYield，该产品以IBM授权的专利技术为基础，旨在通过高效的良率分析和设计优化，提升高端芯片设计的竞争力。
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概伦 DFY NanoYield
- 概伦电子科技有限公司日前宣布，将于2011年11月3日在上海召开技术研讨会，主题为“用于提升IC设计竞争力的良率导向设计技术”。此次研讨会面向从事模型、工艺、PDK及IP库开发，高端芯片设计如模拟、数模混合、存储器等领域相关的工程师。
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概伦 模拟IC
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