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条状过孔 文章 进入条状过孔技术社区

条状过孔成大势所趋

  • 对于28纳米及以下节点,各种新的设计要求使工程师不得不调整传统的数字电路板图设计和验证流程。尤其值得一提的是,过孔的使用受到了很大的影响。新的过孔类型已推出,双重成像(double patterning)、FinFETS 和其它新的设计技巧的加入不仅使过孔的使用显著增多
  • 关键字: 条状过孔  双重成像  FinFETS  矩形过孔  布局布线  

传统过孔数显著增加 条状过孔成大势所趋

  • 摘要:对于28纳米及以下节点,选择和放置多种过孔类型的复杂要求对LEF/技术文件的绕线构成了挑战,导致设计规则检 ...
  • 关键字: 过孔数  条状过孔  
共2条 1/1 1

条状过孔介绍

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