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半导体特征分析系统 文章 进入半导体特征分析系统技术社区

吉时利发布4200-SCS半导体特征分析系统最新版

  •   美国吉时利(Keithley)仪器公司日前发布获奖产品——4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本,本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功能。实验室系统的应用将集成直流和脉冲测量功能与完整的应用工具包结合,为用户提供完整解决方案。功能增强的脉冲发生器插卡和新型的示波器插卡,为半导体技术生产和研究者们提供强大新功能。新升级版本不仅增强了吉时利4200-PIV工具包功能,还提供两种新版应用解决方案,将4200-SCS通用直流与脉冲测量功能进一步扩展到新领域,例如Flash存储器测试
  • 关键字: 4200-SCS  半导体特征分析系统  测量  测试  吉时利  
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半导体特征分析系统介绍

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