- 1.概述：整合性内存自我测试电路产生环境-Brains Brains是从整体的芯片设计切入，利用硬件架构共享的观念，可以大幅减少测试电路的门数 (Gate Count)，并且让使用者能轻易产生优化的BIST电路。Brains可以自动的判读内存并将其分群 (Grouping)，从产品设计前端大幅提升测试良率、降低测试成本，提高产业竞争力。Brains的五级到七级的弹性化管线式架构，可以满足快速内存测试的需求，目前最高测试的速度已经可以达到1.2GHz，整体BIST电路的门
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内存测试 Brains
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