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信号去嵌测试 文章 进入信号去嵌测试技术社区

利用新一代虚拟探测功能实现DDR等信号去嵌测试

  • 一、内存测试中的难点内存广泛应用于各类电子产品中，内存测试也是产品测试中的热点和难点。内存测试中最为关键的测试项目为DQ/DQS/CLK之间的时序关系。JEDEC规范规定测量这几个信号之间的时序时测试点需要选择在靠
  • 关键字： 虚拟探测  DDR  信号去嵌测试  
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信号去嵌测试介绍

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