自今年四月份以来，Christian Wolff一直负责汉诺威Viscom AG手动和半自动X射线检测系统的技术销售工作。在加盟Viscom之前，他任职于一家全球性系统制造商，负责该公司的国内外销售工作。
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Viscom 检测系统 X射线
利用成熟的分析探测仪器作为日常的线上监测工具已经成为半导体量测方法一个重大的发展趋势。扫描电子显微镜（SEM）和X射线荧光谱线（XRF）是两个最好的例子，如电子微探针等技术还在研究之中。这种趋势的主要推动力是
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X射线 衍射 半导体 在线测量
摘要分析对比了X射线检验与磁粉检验的检测范围及优缺点,举例说明磁粉检验能发现X射线检验没有发现的缺陷,...
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磁粉检测 容器检验 X射线
FDA发出警告CT使用的X射线造成器械故障,美国食品药品监督管理局7月14日发出警告：CT检查中使用的X射线可能造成某些植入或体外电子医疗器械故障。这一警告是FDA的医疗器械与放射卫生中心主任Daniel Schultz博士在一封信中公布的，他说：FDA已经接到了数个CT
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FDA X射线
X射线：医疗/牙科设计注意事项,X 射线数字化成像正在为放射诊断学带来变革。在传统的 X 射线系统中，每个组件中的信号衰退都会消耗大于 60% 的原始 X 射线信号能量。在系统的每一级，X 射线信号都将衰退一定的量，即使是为应用专门优化的独立组件也
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X射线 注意事项
X射线等三种医疗数字成像设备原理解析,21世纪数字成像技术的出现给我们带来优异的诊断功能、图像存档以及随时随地的检索功能。自20世纪70年代早期医学成像数字技术出现以来，数字成像的重要性得以日益彰显。半导体器件中混合信号设计能力方面的一些新进展
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X射线 数字成像 设备 原理
X射线光电子能谱分析X射线光电子能谱法（X-ray Photoelectron Spectrom-----XPS）在表面分析领域中是一种崭新的 ...
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X射线 光电子 能谱分析
X射线技术是一项成熟的老技术，从1895年德国物理学家伦琴发现X射线(又称伦琴射线)起，对于X射线的研究与应用已经历了100多年的时间。但截至目前，对于X射线最主要的应用大都集中在工业探伤与检测上，其次是医疗检查和安全检验方面。电子行业及半导体领域的微检测成像，是一项新兴的X光应用技术，它对X光发生器提出更高的要求，并高度集成了多项工业自动控制软硬件新技术，结合半导体及电子封装工艺特点，把 X射线的应用延伸到一个更高的应用领域。它可以解决半导体生产研发中的基片、晶元质量判定问题，可以检测COB(板上芯
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半导体制造 封装 CSP芯片 X射线
自1895年以来，X射线诊断与治疗技术有了飞速的发展，主要进展可分为以下几个阶段： (一)离子X射线管阶段(1895～1912) 这是X射线设备的早期阶段。当时X射线机的结构非常简单，使用效率很低的含气式冷阴极离子X射线管，
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X射线 设备 发展
(一)X射线诊断 X射线应用于医学诊断，主要依据X射线的穿透作用、差别吸收、感光作用和荧光作用。由于X射线穿过人体时，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射线量比肌肉吸收的量要多，那么通过人体后的X射线量就不一样
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X射线 中的应用
在传统的X射线系统中，每个组件中的信号衰退都会消耗大于60%的原始X射线信号能量。因此，一般仅有少于40%的原始 ...
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X射线 ECG信号 ADC MCU
在传统的X射线系统中，每个组件中的信号衰退都会消耗大于60%的原始X射线信号能量。因此，一般仅有少于40%的原始 ...
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X射线 CCD 直接转换 ADC MCU
大多数测试工程师都了解X射线检查系统可以检查隐藏在元件下面的焊点，或检查其它技术难以检测出来的微小焊点。但是，他们可能不了解X射线成像技术有不同的检查方式，2D发射设备会显示X射线路径上的一切物体，而3D系统可以消除来自双面电路板上元件的视觉干扰。尽管2D X射线系统目前还在应用，但3D系统却是高密度双面电路板检查的主流检查设备。
两家著名的PCB测试设备制造商为电子行业生产3D X射线检查系统，即安捷伦和泰瑞达。目前，安捷伦科技的5DX系列在市场上占据优势，而泰瑞达的ClearVue系统却是步
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X射线 PCB板
引 言
数字X射线成像系统以其在图像获取显示存储和传输等方面的优势被广泛地应用于医学影像和工业无损检测领域。这种传统的医用影像和工业无损检测的X射线成像系统一般具有较大的工作面积，但其图像分辨力不高，一般不超过31pixel/mm;而在实际应用中，一些观察和分析微小部件内部结构的工作，如，集成电路的检查、材料与元器件的无损检测以及微小零件的探伤等，这些实际应用并不要求有很大的工作面积，却要求有较高的图像清晰度，另外，运动员、部队以及野外作业人员遇到伤害时的及时诊断，这项工作要求给受伤病人进行及时
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消费电子 X射线 CCD成像系统 音视频技术
摘要: 本文以使用标准CMOS技术和有源像素架构的CMOS有源像素传感器为研究对象。该传感器专为X射线成像系统而设计，具有噪声低和感光度高等特点。这种传感器已使用标准0.35μm技术和8″晶圆得到生产。传感器分辨率为每40 x 40μm2 面积3360 x 3348像素。其对角长度略大于190mm。本文对传感器的图纸设计、拼接图和已得到开发的电子光学性能进行了论述。 &nbs
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CMOS X射线 电源技术 晶圆级 模拟技术 图像传感器 有源像素 其他IC 制程 设备诊断类
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