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集成电路测试机的挑战与趋势

  •   迎 九 (《电子产品世界》编辑,北京 100036)  摘 要:介绍了集成电路测试机(ATE)面临的挑战与解决方案。  关键词:集成电路;测试;微调;trim  集成电路自动测试设备(ATE,测试机)是检测芯片功能和性能的专用设备,据SEMI预测,2019年中国测试机占据后道检测设备62.8%的份额 [1] 。ATE测试的趋势是什么?电子产品世界记者访问了泰瑞达业务战略总监翟朝艳(Natalian Der)女士。  1 芯片测试的新挑战  当今的半导体公司可谓重任在肩:需要在芯片上整合多种功能,有高性
  • 关键字: 202001  集成电路  测试  微调  trim  

三星推出30纳米制程SSD 支持TRIM

  •   三星今天公布了型号为470的SSD产品系列,它们分为64/128/256GB三个版本售价分别为199、399和699美元。这种SSD采用30nm MLC闪存打造,内置双控制器,支持TRIM,采用3Gbps的SATA接口连接,写入和读取速度分别为250和220MB/s,随机读取写入性能为21000IOps和21000IOps,不过64GB版本的性能要稍低,写入速度仅有170MB/s,随机写入性能为11000IOps。
  • 关键字: 三星  30nm  TRIM  

TI新增一款低噪声e-Trim运算放大器OPA376

  • 德州仪器(TexasInstruments,TI)推出一款具有e-Trim修整技术和低噪声的单电源运算放大器OPA376。OPA376采用超小型封装,提供25μA低偏移电压(最大值)、5.5MHz大频宽、7.5nV/√Hz低噪声密度和950μA静态电流(最大值)。      以上这些特性使新组件在各项参数间取得平衡,满足滤波、数据撷取和单电源处理系统的交流和直流规格要求,适合传感器与信号调节、无线通信、医疗仪器、掌上型测试装置和消费音频产品等应用。&nbs
  • 关键字: 模拟技术  电源技术  TI  e-Trim  运算放大器  模拟IC  电源  
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