- 2004年11月JTAG Technology JTAG(联合测试行动组)标准在80代是通用的。JTAG技术实际上称之为IEEE1149.1或边界扫描,由于电子行业几乎每个人都熟悉“JTAG”这个名称,所以“JTAG”用来表示IEEE1149.1技术。 电路内测试器 测试复杂板的老方法是用电路内测试器(ICT)。这种测试方法的测试头是用“钉床”(见图1),焊节点和遮盖的焊球使得这种测
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JTAG
- JTAG口及其对Flash的在线编程,介绍JTAG的定义、结构及引脚的定义,并阐述JTAG状态机的工作原理。
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编程 在线 Flash 及其 JTAG
- 摘 要: 本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用。介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界扫描技术进行设计时应注意的一些基本要点。关键词: 边界扫描测试;JTAG;电路板测试;可测试性设计引言电子器件的生产商和电子产品的制造商都在倾向于采用最新的器件技术,如BGA、CSP(芯片规模封装)、TCP(倒装芯片封装)和其它更小的封装,以提供更强的功能、更小的体积,并节省成本。电路板越来越密、器件越来越复杂、电路性能要求越来越苛刻,越来越难的接入问题导致了工业标准
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JTAG 边界扫描测试 电路板测试 可测试性设计 PCB 电路板
jtag介绍
JTAG是英文“Joint Test Action Group(联合测试行为组织)”的词头字母的简写,该组织成立于1985 年,是由几家主要的电子制造商发起制订的PCB 和IC 测试标准。JTAG 建议于1990 年被IEEE 批准为IEEE1149.1-1990 测试访问端口和边界扫描结构标准。该标准规定了进行边界扫描所需要的硬件和软件。自从1990 年批准后,IEEE 分别于1993 年和 [
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