- 半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前针对晶圆测试和集成电路、微控制器的成品测试推出了一款新型测试系统V101。V101满足了这些芯片的超低成本要求，以及缓解了日益增长的上市时间压力。
V101测试系统将于2009年7月14日-16日在美国加利福尼亚州旧金山市莫斯克尼会议中心举行的SEMICON WEST展览会上展出。
惠瑞捷副总裁暨ASTS事业部总经理魏津博士表示：“V101首次让惠瑞捷成熟的测试技术专业知识惠及这一细分市场。这一成本敏感型市场要求测试方案以最低的测试成本
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惠瑞捷 集成电路 晶圆测试 微控制器 测试系统 V101
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