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基于JTAG的星型扫描接口的设计及其仿真

  •   边界扫描测试技术飞速发展,测试与调试功能不断增强,硬件IP模块向集成多个内核方向发展,以往芯片中传统的测试访问端口(TAP)中嵌入单一的测试访问端口控制器(TAPC)逐渐被系统芯片中嵌入多个TAPC所取代。为使单芯片中集成多TAPC的操作规范标准化,2009年提出的新的测试标准IEEE 1149.7。为解决系统集成复杂度越来越高所带来的测试调试任务困难,标准规范了一种支持星型扫描功能的IEEE 1149.7测试访问端口(在本文中称为TAP.7接口),其接口在原有的IEEE1149.1端口(JTAG)器
  • 关键字: JTAG  TAPC  
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