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soc测试 文章 进入soc测试技术社区

基于新型MEMS开关提高SoC测试能力及系统产出

  • 先进的数字处理器IC要求通过单独的DC参数和高速数字自动测试设备(ATE)测试,以达到质保要求。这带来了很大的成本和组织管理挑战。本文将介绍ADGM1001 SPDT MEMS开关如何助力一次性通过单插入测试,以帮助进行DC参数测试和高速数字测试,从而降低测试成本,简化数字/RF片上系统(SoC)的测试流程。图1.操作员将负载板安装到测试仪上,以测试数字SoC ATE挑战半导体市场在不断发展,为5G调制解调器IC、图像处理IC和中央处理IC等先进的处理器提供速度更快、密度更高的芯片间通信。在这种
  • 关键字: MEMS开关  SoC测试  

应用混合游程编码的SOC测试数据压缩方法

  • 提出了一种有效的基于游程编码的测试数据压缩/ 解压缩的算法: 混合游程编码, 它具有压缩率高和相应解码电路硬件开销小的突出特点. 另外, 由于编码算法的压缩率和测试数据中不确定位的填充策略有很大的关系
  • 关键字: SoC测试  数据压缩  位填充  游程编码  

采用可升级测试平台迎接SoC测试的挑战

  • 系统级芯片(SoC)现在是半导体业界一个很热门的字眼,可以说是工程突破及新型应用的同义词。由于人们对消费产...
  • 关键字: SoC测试  可升级测试平台  

SoC测试技术面临的挑战和发展趋势

  • 中国是全球半导体市场成长最快的区域,预计每年增长率超过25%,原因在于中国已经成为全球集成电路消费的中心、...
  • 关键字: SoC测试  IC  上市时间  
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