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NI扩展PXI平台的功能 降低半导体分析和测试成本

  •   2011年8月——美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)扩展其PXI平台的功能,通过新发布的每个引脚参数测量单元模块(PPMU)和源测量单元模块(SMU)用于半导体的特性描述和生产测试。NI PXIe-6556 200 MHz高速数字I / O具备PPMU, NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低资本设备成本,缩短测试时间,并提升各种测试设备的混合信号灵活性。   使用NI PXIe-6556高速数字I /
  • 关键字: NI  PXI平台  PPMU  SMU  
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