每个芯片上更多器件和更快时钟速度的不断发展，推动了几何形状缩小、新材料和新技术的发展。由于更脆弱、功率密度更高、器件更复杂和新的失效机制，所有这些因素都对单个器件的寿命和可靠性产生了巨大的影响，曾经寿命为100年的器件的生产工艺现在可能只有10年的寿命，这与使用这些器件的预期工作寿命非常接近。较小的误差范围意味着，必须从一开始就考虑器件的寿命和可靠性，从设备开发到工艺集成再到生产不断进行监控，即使是很小的寿命变化，对今天的设备来说也可能是灾难性的。每个芯片上更多器件和更快时钟速度的不断发展，推动了几何形状
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泰克科技 4200A-SCS
泰克高性能4200A-SCS 是一个模块化、可定制、高度一体化的参数分析仪，可同时进行电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 电学测试。
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泰克 4200A-SCS 模块化 参数分析仪
可配置功率电平 :ndash; From 200V to 3kVndash; From 1A to 100Abull; 动态范 围宽:ndash; From mu;V to 3kVndash; From fA to 100Abull; 电容-电压方法:ndash; plusmn;400V多 频C-Vndash; 200V斜 坡速率
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2600 PCT 4200 参数曲线 跟踪仪
直接将ACS安装至4200-SCS的嵌入式PC中能让功能强大 的ACS集成测试系统兼有两者优点。小尺寸但功能强大的 4200-SCS测量硬件结合了ACS软件的全自动化特性，能在极小的封装中实现令人印象深刻的测试功能和自动化。使用
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4200-SCS ACS
恩智浦半导体(NXP Semiconductors N.V.)日前宣布将收购Athena SCS Ltd.，一家致力于保护快速发展的互联世界安全的解决方案供应商。 此次收购将进一步增强恩智浦面向物联网(IoT)、便携式和可穿戴以及汽车等众多应用领域提供安全解决方案的实力。
恩智浦半导体全球销售和市场执行副总裁Steve Owen表示：“Athena在各类安全连接解决方案的领先嵌入式软件和加密技术开发方面拥有较强的优势。 恩智浦专注于为智能世界创建安全连接，而Athena的专业技术和知
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恩智浦 Athena SCS
I分析系统优化小电流测量- 引言许多关键应用都需要能够测量小电流的能力——比如pA级或更小。这些应用包括确定FET的栅极漏流、测试敏感的纳米电子器件，以及测量绝缘体或电容的漏流。4200-SCS型半导体特性
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4200 SCS 吉时利 测量
今年5月，NETGEAR发布了最新的ReadyNAS 3100和ReadyNAS 4200存储服务器，这也是面向大中型企业的存储解决方案。ReadyNAS提供高性能数据存储与集成复制以及虚拟化IT基础设施的备份选项，极大程度上降低了企业成本增加了灵活性。最近，我们就收到了NETGEAR送测的ReadyNAS 4200存储服务器。
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NETGEAR ReadyNAS 4200
硅控制开关SCS(SILICon ControlLED Switch)亦称四端小功率晶闸管。它属于新颖、多功能半导体器件。只要改变 ...
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可控硅 控制 开关 SCS
I分析系统优化小电流测量- 引言
许多关键应用都需要能够测量小电流的能力——比如pA级或更小。这些应用包括确定FET的栅极漏流、测试敏感的纳米电子器件，以及测量绝缘体或电容的漏流。
4200-SCS型半导体特性分析系统配备可选的4200-PA型远程前置放大器时，可提供非常卓越的小电流测量能力，分辨率达1E–16A。成功测量小电流不仅依赖于使用非常灵敏的安培计，例如4200-SCS型，而
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吉时利 电流测量 4200-SCS
吉时利仪器公司(NYSE:KEI)，宣布为其功能强大的4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—— 4200-CVU。 4200-CVU能以测量模块的形式插入 4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。在 4200-CVU的创新设计中采用当前最先进的高性能电路，有8项专利正在申请中。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测
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测试 测量 吉时利 4200-SCS系统 操作系统 消费电子
吉时利仪器公司(Keithley)，宣布为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能—4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10KHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。在4200-CVU的创新设计中采用了先进的高性能电路，有8项专利正在申请中。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C-V测量结果。无论用户是否具有相关测量经验，都能使用该仪器实
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测试 测量 吉时利 4200-SCS 4200-CVU 基础仪器
美国吉时利（Keithley）仪器公司日前发布获奖产品——4200-SCS半导体特征分析系统的最新硬件和软件升级版本，本次升级引入4200-SCS新一代脉冲测试功能。实验室系统的应用将集成直流和脉冲测量功能与完整的应用工具包结合，为用户提供完整解决方案。功能增强的脉冲发生器插卡和新型的示波器插卡，为半导体技术生产和研究者们提供强大新功能。新升级版本不仅增强了吉时利4200-PIV工具包功能，还提供两种新版应用解决方案，将4200-SCS通用直流与脉冲测量功能进一步扩展到新领域，例如Flash存储器测试
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4200-SCS 半导体特征分析系统 测量 测试 吉时利
4200-scs介绍
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