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高频疲劳试验机 文章 进入高频疲劳试验机技术社区

基于FPGA技术高频疲劳试验机控制器的设计

  • 现场可编程门阵列FPGA(FieldProgrammable Gate Array)是美国Xilinx公司于1984年首先开发的一种通用型用户可编程器件。FPGA既具有门阵列器件的高集成度和通用性,又有可编程逻辑器件用户可编程的灵活性。
  • 关键字: 定时器  FPGA  高频疲劳试验机  单片机  控制器  
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高频疲劳试验机介绍

高频疲劳试验机用于进行测定金属、合金材料及其构件(如操作关节、固接件、螺旋运动件等)在室温状态下的拉伸、压缩或拉压交变负荷的疲劳特性、疲劳寿命、预制裂纹及裂纹扩展试验。 高频疲劳试验机在配备相应试验夹具后,可进行正弦载荷下的三点弯曲试验、四点弯曲试验、薄板材拉伸试验、厚板材拉伸试验、强化钢条拉伸试验、链条拉伸试验、固接件试验、连杆试验、扭转疲劳试验、弯扭复合疲劳试验、交互弯曲疲劳试验、CT试验、C [ 查看详细 ]

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