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芯片生命周期管理 文章 进入芯片生命周期管理技术社区

新思科技芯片生命周期管理再升级,加速数据传输并显著缩短测试时间

  • 新思科技(Synopsys, Inc.,)近日推出了一项创新的流结构技术(Streaming fabric technology),能够将芯片数据访问和测试的时间最高缩短80%,并极大程度地降低极限功耗,从而支持日益复杂的大型设计中芯片健康监测的实时分析。作为新思科技芯片生命周期管理流程的一部分,该创新的流结构是一种独特的片上网络,由新思科技TestMAX® DFT可测性设计工具生成,可以快速地将芯片数据传输到多个设计块和多裸晶芯片系统中,显著缩短了测试和分析芯片整体健康状况以发现异常和故障的时间
  • 关键字: 新思科技  芯片生命周期管理  数据传输  测试时间  
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芯片生命周期管理介绍

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