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芯片检测 文章 进入芯片检测技术社区

失效分析系列之—热点定位

  • 失效分析(Failure analysis)的作用是针对异常芯片(电性/可靠性测试异常)进行失效点定位,并结合芯片的原始设计情况判断芯片失效的机理。失效分析需要全面的知识,比如电子、工艺、结构、材料、理化等很多方面都会涉及到。失效定位在不破坏样品或者部分破坏样品的情况下,定位出失效问题的物理位置。热点定位的原理依据,激光作用于半导体材料时,会产生两种效应,一种是热效应(热辐射),另一种是光生载流子效应(光子辐射)。(1)如果激光波长的能量小于半导体能带,半导体仅仅发生热效应;(2)当大于或接近半导体能带时
  • 关键字: 失效分析  芯片检测  

给国产最顶级芯片设计商做检测

  • OPPO解散哲库的消息,震惊了很多人。一时间,各种说法甚至阴谋论都蜂拥而至。不过,对于手机厂商来说,从事芯片业务本身就是一项高风险操作,成本高昂,成功率比较低。纵览全球,能够自己设计核心芯片的手机厂商,也就是苹果和华为获得(或曾经获得)了成功。很多人没有意识到当年的华为(海思)做了一件多么了不起的事,手机芯片到底有多难?连在芯片代工方面可以和台积电抗衡的三星,自家手机用的芯片也是高通。不过,好消息是,华为并没有放弃,中国企业并没有放弃,越来越多的企业在尝试自主设计芯片。顶着巨大的压力,华为虽然手机芯片领域
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