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自动测试设备 文章

Test Advantage 收购Microstats

  •    Boston Semi Equipment Group(BSE 集团)旗下公司 Test Advantage 宣布已经收购了位于菲律宾的一家面向自动测试设备 (ATE) 市场的硬件维修中心 Microstats, LLC。这两家公司将整合它们的产品、解决方案和共同的客户群,以增强 Test Advantage 在后端半导体市场的产品和服务。    
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惠瑞捷获“最佳测试设备供应商"大奖

  •   首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷股份有限公司(纳斯达克代号:VRGY),本次于半导体业界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所举办的2011年客户满意度调查中荣膺“最佳测试设备供应商“与“10大最佳晶片制造设备大型供应商“等两大奖项的肯定。   
  • 关键字: 惠瑞捷  自动测试设备  

BSE集团收购Test Advantage Hardware进军ATE资本设备

  •   为了向半导体行业提供融合了设备专长与创新金融解决方案的独特组合,业内资深人士 Douglas Elder、Bryan Banish、Colin Scholefield 和 Sandy Garrett 今天宣布创办 Boston Semi Equipment, LLC(BSE 集团)。BSE 集团由私人集资,其目标是在半导体设备行业设定新的基准,将创新金融解决方案与经验、专长和基础设施结合起来,以支持全新和二手半导体生产设备的租赁、销售、订制改造和服务。   传统的资本设备融资解决方案过去一直无法支持
  • 关键字: 半导体设备  自动测试设备  

SOC芯片设计与测试

  •   摘要:SOC已经成为集成电路设计的主流。SOC测试变得越来越复杂,在设计时必须考虑DFT和DFM。本文以一SOC单芯片系统为例,在其设计、测试和可制造性等方面进行研究,并详细介绍了SOC测试解决方案及设计考虑。 关键词:单芯片系统;面向测试设计;面向制造设计;位失效图;自动测试设备     引言     以往的系统设计是将CPU,DSP,PLL,ADC,DAC或Memory等电路设计成IC后,再加以组合变成完整的系统,但现今的设计方式是
  • 关键字: SOC  单芯片系统  面向测试设计  面向制造设计  位失效图  自动测试设备  
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自动测试设备介绍

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