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缺陷 文章 进入缺陷技术社区

降低汽车用PCB缺陷率的六大方法

  • 前言 汽车电子市场是继电脑、通讯之后PCB的第三大应用领域。随着汽车从传统意义上的机械产品,逐步演化、发展成为智能化、信息化、机电一体化的高技术产品,电子技术在汽车上的应用已十分广泛,无论是发动机系统
  • 关键字: PCB  汽车  方法  缺陷    

DLP拼接屏的技术缺陷

  • DLP拼接大屏作为大屏拼接领域的主力军,一直被广泛应用于多个领域。而且,随着技术的日渐完善以及人们大屏幕视觉需求的火热,其应用范围更加宽泛,应用环境也更加广泛,随着而来的选购维护问题也更加复杂。其实大屏作
  • 关键字: 缺陷  技术  拼接  DLP  

针对产品的缺陷,三相多功能电能表解决方案诞生

  • 针对产品的缺陷,三相多功能电能表解决方案诞生,背景电能表是用来测量电能的仪表,又称电度表,火表,电能表,千瓦小时表,指测量各种电学量的仪表。目前国内的电能表设计已经走过了由8位MCU向通用DSP甚至专用DSP的变革,通用DSP的应用方案的劣势在于DSP的专业应用
  • 关键字: 电能表  解决方案  诞生  多功能  三相  产品  缺陷  针对  

缺陷对石墨烯电子结构的影响

  • 摘要 基于第一性原理计算方法,通过密度泛函理论(DFT)和广义梯度近似(GGA)对本征及含有缺陷的石墨烯超晶胞进行了电子结构的计算,研究了多种缺陷对石墨烯电子结构的影响。研究发现,多种缺陷均使石墨烯能带在费米能级
  • 关键字: 影响  结构  电子  石墨  缺陷  

查找嵌入式软件设计中的缺陷的方法

  • 查找嵌入式软件设计中的缺陷的方法,本文将介绍如何避免那些隐蔽然而常见的错误,并介绍的几个技巧帮助工程师发现软件中隐藏的错误。大部分软件开发项目依靠结合代码检查、结构测试和功能测试来识别软件缺陷。尽管这些传统技术非常重要,而且能发现大多
  • 关键字: 缺陷  方法  设计  软件  嵌入式  查找  

LED芯片封装缺陷检测方案

  • 摘要:LED(Light-emitting diode)由于寿命长、能耗低等优点被广泛地应用于指示、显示等领域。可靠性、稳定性及高出光率是LED取代现有照明光源必须考虑的因素。

  • 关键字: 检测  方案  缺陷  封装  芯片  LED  

机器视觉在光纤端面缺陷检测中的应用

  • 摘要:传统的光纤端面缺陷检测用的是人工检测方式,这种检测方式效率很低,检测结果的主观性很强。对光纤端面缺陷使用机器视觉检测,能极大地提高检测效率和检测准确性。首先将采集到的图像通过图像处理二值化,接着
  • 关键字: 检测  应用  缺陷  光纤  视觉  机器  

基于骨架模板配准的OLED显示屏斑痕缺陷检测技术

  • 针对OLED显示屏的自动化缺陷检测问题,提出了一种新的检测方法。首先,基于显示屏的原图像,提取其骨架信息,进行分块处理后快速地与模板图像配准,通过差影法实现斑痕缺陷的初次提取。然后通过大津法确定图像的阈值,将图像分割并进行差影操作后,实现斑痕缺陷的检测;最后,通过列举的实例,验证了本方法的有效性。
  • 关键字: 斑痕  缺陷  检测技术  显示屏  OLED  骨架  模板  基于  

利用视觉系统来防止PCB缺陷的产生

  • 1、前言  在现代电子产品世界中,PCB(印刷电路板)是组成电子产品的重要环节,很难想象在一台电子设备中有不采用PCB的,所以PCB的质量如何将对电子产品能否长期正常可靠工作带来非常大的影响。提高 PCB的质量是电子
  • 关键字: PCB  视觉系统  防止  缺陷    

蓝色发光二极管晶片制备技术的一些缺陷

查找嵌入式C语言程序/软件中的缺陷的多种技术

  • 查找嵌入式C语言程序/软件中的缺陷的多种技术,基于模式的静态代码分析、运行时内存监测、单元测试以及数据流分析等软件验证技术是查找嵌入式C语言程序/软件缺陷行之有效的方法。上述技术中的每一种都能查找出某一类特定的错误。即便如此,如果用户仅采用上述技术
  • 关键字: 多种  技术  缺陷  软件  嵌入式  语言程序  查找  

浅析PCB电镀纯锡缺陷

  •   一、前言

      在线路板的制作过程中,多数厂家因考虑成本因素仍采用湿膜工艺成像,从而会造成图形电镀纯锡时难免出现“渗镀、亮边(锡薄)”等不良问题的困扰,鉴于此,本人将多年总结出的镀纯锡工艺
  • 关键字: PCB  电镀    缺陷    

嵌入式软件技术的缺陷查找方法

  • 嵌入式软件技术的缺陷查找方法,  本文将介绍如何避免那些隐蔽然而常见的错误,并介绍的几个技巧帮助工程师发现软件中隐藏的错误。大部分软件开发项目依靠结合代码检查、结构测试和功能测试来识别软件缺陷。尽管这些传统技术非常重要,而且能发现
  • 关键字: 方法  查找  缺陷  软件技术  嵌入式  

光致发光技术在检测晶体Si太阳电池缺陷的应用

  • 引言  近年来,光伏产业发展迅猛,提高效率和降低成本成为整个行业的目标。在晶体Si太阳电池的薄片化发展过程中,出现了许多严重的问题,如碎片、电池片隐裂、表面污染、电极不良等,正是这些缺陷限制了电池的光电
  • 关键字: 电池  缺陷  应用  太阳  Si  技术  检测  晶体  发光  

基于LED芯片封装缺陷检测方法研究

  • 摘要:LED(Light-emitting diode)由于寿命长、能耗低等优点被广泛地应用于指示、显示等领域。可靠性、稳定性及高出光率是LED取代现有照明光源必须考虑的因素。 LED(Light-emitting diode)由于寿命长、能耗低等优点
  • 关键字: 检测  方法研究  缺陷  封装  LED  芯片  基于  
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