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单片机 硬件电路 设计原理 工程
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硬件电路 测量 分析
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AVR 硬件电路
- 引言
PCB 光板测试机基本的测试原理是欧姆定律，其测试方法是将待测试点间加一定的测试电压，用译码电路选中PCB 板上待测试的两点，获得两点间电阻值对应的电压信号，通过电压比较电路，测试出两点间的电阻或通断情况。 重复以上步骤多次，即可实现对整个电路板的测试。
由于被测试的点数比较多， 一般测试机都在2048点以上，测试控制电路比较复杂，测试点的查找方法以及切换方法直接影响测试机的测试速度，本文研究了基于FPGA的硬件控制系统设计。
硬件控制系统
测试过程是在上位计算机的控制下，控
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FPGA PCB 测试机 硬件电路
- 引言
PCB 光板测试机基本的测试原理是欧姆定律，其测试方法是将待测试点间加一定的测试电压，用译码电路选中PCB 板上待测试的两点，获得两点间电阻值对应的电压信号，通过电压比较电路，测试出两点间的电阻或通断情况。 重复以上步骤多次，即可实现对整个电路板的测试。
由于被测试的点数比较多， 一般测试机都在2048点以上，测试控制电路比较复杂，测试点的查找方法以及切换方法直接影响测试机的测试速度，本文研究了基于FPGA的硬件控制系统设计。
硬件控制系统
测试过程是在上位计算机的控制下
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FPGA PCB 硬件电路 测试机
- 1 ADC08D1000的结构
ADC08D1000是NS(National Semiconductor，国家半导体)公司于2005年推出的双通道低功耗的高速8位A／D转换器，其最高单通道采样频率达l.3 GHz，全功率带宽(FPBW)为1．7 GHz，在500 MHz标准信号输入的情况下可以获得7．4位的有效采样位数。整个A／D转换器用单电源1．9V供电，内带高质量参考源和高性能采样保持电路，每个通道均为差分输入，采样范围可选为650 mV或870 mV(峰一峰值)。在高速数／模转换系统中，有
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硬件电路 NS A／D转换器 FPGA LVDS
硬件电路介绍
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