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灵敏测试 文章

【4200 SMU应用文章】之实例篇:支持千倍以上负载电容的灵敏测试

  • 使用长电缆或电容夹头的测试设置会增加测试仪器输出的电容,导致测量结果不准确或不稳定。当输出或扫描直流电压并测量异常灵敏的低电流时,能观察到这种效应。为了应对这些挑战,泰克为吉时利4200A-SCS参数分析仪引入了两个新的源测量单元(SMU)模块,即使在测试连接电容较高的应用中,该模块也可以进行稳定的低电流测量。节能的要求越来越高,这就需要越来越低的电流,这是一个日益严峻的测量挑战,如测试智能手机或平板电脑的大型LCD面板。高电容测试连接可能会出现问题的应用,还包括:探卡上的纳米FET I-V测量,使用长电
  • 关键字: SMU  灵敏测试  
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灵敏测试介绍

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