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测控系统 文章 进入测控系统技术社区

测试转台测控系统电磁兼容性设计

  • 　　1　概述 　　测试转台测控系统不可能工作在绝对理想的环境下，因此它必然受到各种环境因素的影响。这些影响包括：(1)外部环境对测试设备的影响;(2)测试设备电子线路内部各元器件之间的相互干扰。外界环境干扰包括外界电磁场、电网波动等，而电子线路之间的互相干扰则主要是通过公共阻抗、线间分布电容及互感而相互影响。测试设备电子线路不仅受到外界环境的影响，同时它也会向外界发射电磁波，给电网回馈波动，这种效应会对其它电子设备造成干扰。因此其电磁兼容是研究该设备既不受周围环境的影响，又不给周围环境以这种影响的一门技
  • 关键字： 电磁  兼容  测控系统  

DS2438及其在单总线微网中的应用

  • 　　摘要：介绍内部集成多种功能部件的单总线器件DS2438，利用该器件内部丰富的硬件资源，可构成具有环境温度及单总线供电电压补偿功能的单总线数据采集系统；介绍器件性能特点、内部结构及工作原理，并给出该器件在单总线微网中的具体应用实例。     关键词：单总线微网 测控系统 单片机 传感器 1 概述 　　在数字化测控系统中，由于单总线微网仅使用1根导线进行双向数据传送，并同时为远端器件提供电源，既降低了测控系统的硬件成本，又提高了系统的可靠性，因而是有着广泛应用前景的现场
  • 关键字： 单总线微网  测控系统  单片机  传感器  MCU和嵌入式微处理器  

PIC实现激光打标设备测控系统的研究与设计

  • 本文介绍了基于PICl6F876的激光打标设备冷却系统监测控制系统的实现方法，本系统在电路设计上是完全独立的，不影响后级强电流电路的工作。
  • 关键字： PIC  激光打标  测控系统  设备    

一种80C198单片机测控通用系统

  • 　　摘要　介绍了一种以80C198单片机为中央处理器的测控通用系统，给出了系统的硬件原理图及常用软件流程图，并阐述该系统通用性及特点，以供自动测控设计人员参考。 　　关键词　单片机　测控系统　通用性 1　引言 　　各种测控系统和智能仪器、仪表基本组成包括：传感器、计算机系统、执行器。现在，传感器、执行器的通用性越来越好，设计自动测控系统或智能仪器仪表有标准的4～20mA或0～10mA的标准信号输出的传感器和接受标准驱动信号的执行器供选择，因此，设计者只需设计计算机系统部分，计算机系统基本结构是一致的，仅涉
  • 关键字： 测控系统  测量  测试  单片机  通用性  

2006泛华测控系统技术应用研讨会举行

  • 打造应用品牌 引领测控潮流 近日，由北京中科泛华测控技术有限公司主办的2006“泛华”测控系统技术应用研讨会在北京九华山庄胜利举行。此次研讨会以现代测控系统技术应用为核心，结合美国国家仪器有限公司（NI）的虚拟仪器产品的热点应用与系统集成案例，由泛华、NI和其他应用方案提供商的专家向来自各行业的测控应用工程师们介绍了虚拟仪器系统的主流技术、发展方向、以及应用市场和应用案例，为测控行业创造了一个极好的沟通渠道和交流平台。 基于虚拟仪器技术的测控系统作为一种以计算机系统为核心、结合模块化测试测量设备
  • 关键字： 测控系统  泛华  研讨会  

在测控系统中用IP核实现D/A转换

  • 采用数字化技术、在测控系统中用IP核实现D/A转换，并且在1片可编程逻辑器件中实现。
  • 关键字： 测控系统  IP核  转换    

强实时测控系统的软件设计技术

  • 设计需求工业控制和SCADA的发展对测控及仿真软件的实时性提出了更高的要求，软件的实时性已作为评估测控、仿真系统性能优劣的一项重要考核指标。实现软件的实时性当然离不开高速I/O传输及高速数据采集的支持，许多公司现已成功研制出具有高可靠性和稳定性的高速数据采集板卡，板卡的研制仅仅为高速数据采集提供了很好的硬件平台，还需要应用微机接口技术、软件工程技术、总线技术使其发挥应有的作用。本文主要从A/D触发时钟和触发模式等硬件配置的软件设置方法，数据传输方式和端口I/O操作方法的选择，以及多线程应用技术等方面，探讨
  • 关键字： 测控系统  

强实时测控系统的软件设计技术

  • 设计需求工业控制和SCADA的发展对测控及仿真软件的实时性提出了更高的要求，软件的实时性已作为评估测控、仿真系统性能优劣的一项重要考核指标。实现软件的实时性当然离不开高速I/O传输及高速数据采集的支持，许多公司现已成功研制出具有高可靠性和稳定性的高速数据采集板卡，板卡的研制仅仅为高速数据采集提供了很好的硬件平台，还需要应用微机接口技术、软件工程技术、总线技术使其发挥应有的作用。本文主要从A/D触发时钟和触发模式等硬件配置的软件设置方法，数据传输方式和端口I/O操作方法的选择，以及多线程应用技术等方面，探讨
  • 关键字： 测控系统  
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