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低功耗制造测试的设计-第一部分

• 完全的数字电路测试方法通常能将动态功耗提高到远超出其规范定义的范围。如果功耗足够大，将导致晶圆检测或预老化(pre-burn-in)封装测试失效，而这需要花大量的时间和精力去调试。当在角落条件(corner conditions)下测试超大规模SoC时这个问题尤其突出，甚至会使生产线上出现不必要的良率损失，并最终减少制造商的毛利。避免测试功耗问题的最佳途径是在可测试性设计(DFT)过程中结合可感测功率的测试技术。本文将首先介绍动态功耗与测试之间的关系，以说明为何功率管理现在比以往任何时候都迫切；然后介绍两
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