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损坏过应力分析 文章 进入损坏过应力分析技术社区

你的电源IC是如何失效的?电源IC损坏过应力分析

  • 在我们项目开发和产品量产过程中总是会出现一些 IC 损坏的现象,通常要想找出这些 IC损坏的根本原因并不总是很容易。有些偶发性的损坏很难被重现,这时的难度就会更大。而且有些时候 IC 的失效表现简直就是破坏性的,可能IC已经被烧得一塌糊涂,即使求助IC原厂分析,往往也不一定能找出失效的根本原因,出现这种情况,作为工程师的你估计头皮要感觉到阵阵发麻了。电源 IC 的失效常常是其输入端受到电气过应力( EOS)的结果。在很多情况下,器件失效的原因都是输入电压太高了。本文对电源 IC 输入端 ESD
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损坏过应力分析介绍

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