首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> 失效分析

失效分析 文章 进入失效分析技术社区

IC故障诊断及失效分析:发现事实避免臆测

  • 摘要:对一个复杂的设备进行故障诊断的时候,知识储备是最重要的。我们想要的并且需要去了解相关的一些问题。它 ...
  • 关键字: IC故障  失效分析  

线路板的失效分析

  • 你是否长时间纠缠于线路板的失效分析?你是否花费大量精力在样板调试过程中?你是否怀疑过自己的原本正确的设 ...
  • 关键字: 线路板  失效分析  

对使用铜丝键合的功率MOSFET进行失效分析

  • 摘要:由于铜丝键合可以替代金键合,价格又便宜,正在被越来越多地应用到微电子元器件当中。目前的情况表明铜是可行的替代品,但是证明其可靠性还需要采用针对铜丝键合工艺的新型失效分析(FA)技术。
  • 关键字: 铜丝键合  MOSFET  金键合  失效分析  金属层  201308  

某光电装备电机驱动电路失效分析

  • 摘要:驱动电路的性能很大程度上影响整个系统的工作性能。驱动电路的设计中主要考虑功能和性能等方面的因素。本文首先介绍了某平台的电机驱动电路,然后就实际工作及实验中驱动电路出现的失效信息作以分析,对问题进
  • 关键字: 驱动电路  失效分析  H桥  PWM  

抗辐射晶体管3DK9DRH的贮存失效分析

  • 为了找到并纠正抗辐射晶体管3DK9DRH贮存失效的原因,利用外部检查、电性能测试、检漏、内部水汽检测、开封检查等试验完成了对晶体管3DK9DRH的一种贮存失效分析。结果表明晶体管存在工艺问题,内部未进行水汽控制,加上内部硫元素过高,长期贮存后内部发生了氧化腐蚀反应,从而导致晶体管功能失效。对此建议厂家对晶体管的生产工艺进行检查,对水汽和污染物如硫元素等加以控制,及时剔除有缺陷的晶体管。
  • 关键字: 3DK9DRH  辐射  晶体管  失效分析    

热阻测试原理与失效分析

  • 文中通过热阻的测试原理分析和实际案例,分别从热阻测试条件、控制限、上芯空洞、倾斜、芯片内阻等几个方面,全面地阐述对热阻测试结果的影响,并通过数据统计形成图表,较为直观明了,总结出热阻测试失效的各种可能原因。
  • 关键字: 热阻测试  原理  失效分析    
共21条 2/2 « 1 2
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473