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EEPW首页 >> 主题列表 >> 失效分析

失效分析 文章

光电编码器主芯片失效分析与防护

  • 某款光电编码器在工业机器人上长期服役2~5年后,出现多例主芯片失效。运用宏观、体视显微镜、EDS能谱、逸出气分析(EGA,TG/MS联用)等展开理化检验、分析。结果表明,其内部散热片基材等零部件在高负载工况下逸出的硫化气体,在主芯片密集引脚位置冷凝聚集,产生硫化腐蚀并导致短路与通讯失效。结合失效研究防护、防潮方案,经硫化、潮态等恶劣气氛暴露验证,并结合面扫描EDS能谱、内部温湿监测等试验手段量化证明了防护的有效性。改善后的编码器替换上整机,经3年以上使用,未再现主芯片硫化失效。
  • 关键字: 光电编码器  主芯片  硫化  EGA(TG/MS联用)  EDS能谱  失效分析  202103  

特定工作条件下的开关电源模块失效分析

  • 针对在某特定工作条件下发生的短路失效问题,进行了开关电源模块及其外围电路的工作原理分析,通过建立故障确定了失效原因,运用原理分析与仿真分析的方法找到了开关电源模块的损伤原因与机理,并给出了对应的改进措施。
  • 关键字: 开关电源模块  电源振荡  失效分析  MOSFET  202105  

拨码开关触点腐蚀失效分析与预防

  • 拨码开关售后接触不良导致空调整机功能失效。对失效器件进行案例统计、宏观、X光、化学成分及厚度分析。结果表明,不同品牌的拨码开关,存在失效分布、Au层厚度及硬化剂含量控制、电镀闭孔率等工艺控制差异,经对比盐雾试验确认了失效机理、失效率,并据此提出相应的有效预防方案。
  • 关键字: 202107  拨码开关  结构  腐蚀  失效分析  预防  

某型红外探测器预处理电路失效分析

  • 摘要:作为红外探测系统中的基础硬件和关键部件,预处理电路的性能直接影响红外探测系统成像质量。针对某型红外探测器预处理电路的故障现象,建立故障树逐步进行失效分析,定位异常处并通过测试验证,进而提出纠正措施避免类似异常的发生。经过本次失效分析,找到了偶然事件产生的根源,通过采取纠正措施,降低了偶然失效发生的概率,对产品可靠性的提高具有显著实用价值。图1 红外探测系统功能框图预处理电路是红外探测系统模拟信号与数字信号的桥梁,其采集性能、图像处理能力及输出信号直接影响红外探测系统成像质量,是整体系统的关键部件[2
  • 关键字: 202106  红外探测器  预处理电路  失效分析  可靠性  

一种基于ADS仿真的L波段固态功放失效分析

  •   董 亮,薛 新(中国电子科技集团公司第三十六研究所,浙江 嘉兴 314033)  摘 要:本文介绍了一种利用ADS软件建模进行功率管失效分析的方法。首先通过ADS对PCB板进行模型提取,然后版图仿真,再导入原理图中进行版图原理图联合仿真,仿真结果与实测数据较吻合。最后根据实际现象修改板材模型,对不同油脂参数进行仿真,仿真结果与实际故障现象具备较高的吻合度。该方法可以对功放故障进行定量分析,能更准确地进行故障定位。  关键词:ADS;失效分析;功率放大器  0 引言  固态功率放大器因为其效率高、体积小
  • 关键字: 201910  ADS  失效分析  功率放大器  

广电计量:失效分析推动元器件国产化进程

  • 失效分析是一门发展中的新兴学科,近年才开始普及。它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。广电计量致力于针对产品设计、研制、使用、维修/维护全寿命周期中出现的失效产品,为客户提供高效快速的原材料、电子元器件、PCB、PCBA失效分析/故障根因分析和改进提升技术服务。2019年9月4日,由工信部、上海市政府指导,中国半导体行业协会、中国电子信息产业发展研究院主办的第二届
  • 关键字: 失效分析,元器件国产化  

怎样才是最有效的IC故障诊断和失效分析

  • 摘要:对一个复杂的设备进行故障诊断的时候,知识储备是最重要的。我们想要的并且需要去了解相关的一些问题。它包括正确的IC版本号,在哪里可以找到有关的参考资料,谁真正了解客户端发生了什么。帮助客户是我们最主
  • 关键字: IC    故障诊断    失效分析    DC-DC  

使用时间可控发射方法来进行模拟电路的失效分析

  • 时间可控发射方法(TRE)是一种常用的非入侵式波形测量方法,它能从芯片的背面探测芯片内部节点的时序波形。完美 ...
  • 关键字: 可控发射  模拟电路  失效分析  

可靠性失效分析常见思路(二)

  • 2.3 失效树分析法  失效树分析法是一种逻辑分析方法。逻辑分析法包括事件树分析法(简称ETA)、管理失误 ...
  • 关键字: 可靠性  失效分析  

可靠性失效分析常见思路(一)

  • 失效分析在生产建设中极其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析结论要正确无误,改进措施要切实可行。   ...
  • 关键字: 可靠性  失效分析  

IC故障诊断及失效分析:发现事实避免臆测

  • 摘要:对一个复杂的设备进行故障诊断的时候,知识储备是最重要的。我们想要的并且需要去了解相关的一些问题。它 ...
  • 关键字: IC故障  失效分析  

线路板的失效分析

  • 你是否长时间纠缠于线路板的失效分析?你是否花费大量精力在样板调试过程中?你是否怀疑过自己的原本正确的设 ...
  • 关键字: 线路板  失效分析  

对使用铜丝键合的功率MOSFET进行失效分析

  • 摘要:由于铜丝键合可以替代金键合,价格又便宜,正在被越来越多地应用到微电子元器件当中。目前的情况表明铜是可行的替代品,但是证明其可靠性还需要采用针对铜丝键合工艺的新型失效分析(FA)技术。
  • 关键字: 铜丝键合  MOSFET  金键合  失效分析  金属层  201308  

某光电装备电机驱动电路失效分析

  • 摘要:驱动电路的性能很大程度上影响整个系统的工作性能。驱动电路的设计中主要考虑功能和性能等方面的因素。本文首先介绍了某平台的电机驱动电路,然后就实际工作及实验中驱动电路出现的失效信息作以分析,对问题进
  • 关键字: 驱动电路  失效分析  H桥  PWM  

抗辐射晶体管3DK9DRH的贮存失效分析

  • 为了找到并纠正抗辐射晶体管3DK9DRH贮存失效的原因,利用外部检查、电性能测试、检漏、内部水汽检测、开封检查等试验完成了对晶体管3DK9DRH的一种贮存失效分析。结果表明晶体管存在工艺问题,内部未进行水汽控制,加上内部硫元素过高,长期贮存后内部发生了氧化腐蚀反应,从而导致晶体管功能失效。对此建议厂家对晶体管的生产工艺进行检查,对水汽和污染物如硫元素等加以控制,及时剔除有缺陷的晶体管。
  • 关键字: 3DK9DRH  辐射  晶体管  失效分析    
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