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失效分析 文章 进入失效分析技术社区

失效分析系列之—热点定位

  • 失效分析(Failure analysis)的作用是针对异常芯片(电性/可靠性测试异常)进行失效点定位,并结合芯片的原始设计情况判断芯片失效的机理。失效分析需要全面的知识,比如电子、工艺、结构、材料、理化等很多方面都会涉及到。失效定位在不破坏样品或者部分破坏样品的情况下,定位出失效问题的物理位置。热点定位的原理依据,激光作用于半导体材料时,会产生两种效应,一种是热效应(热辐射),另一种是光生载流子效应(光子辐射)。(1)如果激光波长的能量小于半导体能带,半导体仅仅发生热效应;(2)当大于或接近半导体能带时
  • 关键字: 失效分析  芯片检测  

PCIe失效分析利器,一学就会成为故障定位专家

  • 在服务器、PC等电子设备主板的生产中,往往会出现产线的故障,需要失效分析工程师(FA)以及维修工程师(RMA)去快速定位生产过程当中的故障件,特别是一些高速信号的故障。在整个过程中,往往需要面临很多的压力和责任,比如:Ÿ   客户投诉需要及时反馈Ÿ   不良风险点的识别和内部分析Ÿ   不断完善设计检查表,推动 RD 优化设计Ÿ   指导生产制程改善Ÿ   团队的能力需要持续提升高速信号的特殊性但是要应对这
  • 关键字: PCIe  失效分析  

环旭电子发展先进失效分析技术 应对SiP微小化高阶产品需求

  • 在5G、消费电子、车载电子和创新智能应用的带动下,以SiP为代表的新型封装技术逐渐兴起,高可靠性元器件和半导体市场迎来高密度、小型化产品需求的爆发性增长。为满足这些先进制程、先进材料及先进封装的应用和发展,环旭电子发展先进电子元器件失效分析技术,应对SiP微小化产品日益复杂和多样化的需求。失效分析的一般程序分为3个关键步骤:失效模式确认、分析失效机理、验证失效机理和原因,再进一步就是要提出改进措施。失效分析在集成电路产业链中发挥的重要性越来越大。为提高失效分析的成功率,必须借助更加先进和精确的设备与技术,
  • 关键字: 环旭电子  失效分析  SiP  

关于热敏电阻应用失效问题研究

  • 热敏电阻是指阻值随温度的改变而发生显著变化的敏感元件,除此之外,还具有体积小、反应快,使用方便等优点,因此被广泛应用于工业、农业、交通运输等领域,解决各种技术问题。本文主要介绍热敏电阻在家电领域的应用及失效案例分析,热敏电阻为家电主控板的核心器件,此器件失效会直接导致主控板功能错乱或者直接停机。因此,研究此元件的失效原理及可靠性提升方案,对家电使用寿命起到关键的作用,同时对其他电子元器件的失效研究也起到借鉴作用。
  • 关键字: 热敏电阻  失效分析  金属迁移  202101  

压力开关簧片断裂失效分析与改进

  • 空调用压力开关在安装一定时间后,零星出现内部簧片断裂导致器件功能失效现象。对失效器件进行案例统计、宏观、微观组织、化学成分及应力、疲劳寿命分析。结果表明,不同品牌的压力开关,存在失效概率、簧片及其加工工艺等控制差异,经对比氨熏试验确认了疲劳冲击失效机理,并据此提出相应有效改进方案。
  • 关键字: 压力开关  结构应力  疲劳  失效分析  改进  202201  

光电编码器主芯片失效分析与防护

  • 某款光电编码器在工业机器人上长期服役2~5年后,出现多例主芯片失效。运用宏观、体视显微镜、EDS能谱、逸出气分析(EGA,TG/MS联用)等展开理化检验、分析。结果表明,其内部散热片基材等零部件在高负载工况下逸出的硫化气体,在主芯片密集引脚位置冷凝聚集,产生硫化腐蚀并导致短路与通讯失效。结合失效研究防护、防潮方案,经硫化、潮态等恶劣气氛暴露验证,并结合面扫描EDS能谱、内部温湿监测等试验手段量化证明了防护的有效性。改善后的编码器替换上整机,经3年以上使用,未再现主芯片硫化失效。
  • 关键字: 光电编码器  主芯片  硫化  EGA(TG/MS联用)  EDS能谱  失效分析  202103  

特定工作条件下的开关电源模块失效分析

  • 针对在某特定工作条件下发生的短路失效问题,进行了开关电源模块及其外围电路的工作原理分析,通过建立故障确定了失效原因,运用原理分析与仿真分析的方法找到了开关电源模块的损伤原因与机理,并给出了对应的改进措施。
  • 关键字: 开关电源模块  电源振荡  失效分析  MOSFET  202105  

拨码开关触点腐蚀失效分析与预防

  • 拨码开关售后接触不良导致空调整机功能失效。对失效器件进行案例统计、宏观、X光、化学成分及厚度分析。结果表明,不同品牌的拨码开关,存在失效分布、Au层厚度及硬化剂含量控制、电镀闭孔率等工艺控制差异,经对比盐雾试验确认了失效机理、失效率,并据此提出相应的有效预防方案。
  • 关键字: 202107  拨码开关  结构  腐蚀  失效分析  预防  

某型红外探测器预处理电路失效分析

  • 摘要:作为红外探测系统中的基础硬件和关键部件,预处理电路的性能直接影响红外探测系统成像质量。针对某型红外探测器预处理电路的故障现象,建立故障树逐步进行失效分析,定位异常处并通过测试验证,进而提出纠正措施避免类似异常的发生。经过本次失效分析,找到了偶然事件产生的根源,通过采取纠正措施,降低了偶然失效发生的概率,对产品可靠性的提高具有显著实用价值。图1 红外探测系统功能框图预处理电路是红外探测系统模拟信号与数字信号的桥梁,其采集性能、图像处理能力及输出信号直接影响红外探测系统成像质量,是整体系统的关键部件[2
  • 关键字: 202106  红外探测器  预处理电路  失效分析  可靠性  

一种基于ADS仿真的L波段固态功放失效分析

  •   董 亮,薛 新(中国电子科技集团公司第三十六研究所,浙江 嘉兴 314033)  摘 要:本文介绍了一种利用ADS软件建模进行功率管失效分析的方法。首先通过ADS对PCB板进行模型提取,然后版图仿真,再导入原理图中进行版图原理图联合仿真,仿真结果与实测数据较吻合。最后根据实际现象修改板材模型,对不同油脂参数进行仿真,仿真结果与实际故障现象具备较高的吻合度。该方法可以对功放故障进行定量分析,能更准确地进行故障定位。  关键词:ADS;失效分析;功率放大器  0 引言  固态功率放大器因为其效率高、体积小
  • 关键字: 201910  ADS  失效分析  功率放大器  

广电计量:失效分析推动元器件国产化进程

  • 失效分析是一门发展中的新兴学科,近年才开始普及。它一般根据失效模式和现象,通过分析和验证,模拟重现失效的现象,找出失效的原因,挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量,技术开发、改进,产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。广电计量致力于针对产品设计、研制、使用、维修/维护全寿命周期中出现的失效产品,为客户提供高效快速的原材料、电子元器件、PCB、PCBA失效分析/故障根因分析和改进提升技术服务。2019年9月4日,由工信部、上海市政府指导,中国半导体行业协会、中国电子信息产业发展研究院主办的第二届
  • 关键字: 失效分析,元器件国产化  

怎样才是最有效的IC故障诊断和失效分析

  • 摘要:对一个复杂的设备进行故障诊断的时候,知识储备是最重要的。我们想要的并且需要去了解相关的一些问题。它包括正确的IC版本号,在哪里可以找到有关的参考资料,谁真正了解客户端发生了什么。帮助客户是我们最主
  • 关键字: IC    故障诊断    失效分析    DC-DC  

使用时间可控发射方法来进行模拟电路的失效分析

  • 时间可控发射方法(TRE)是一种常用的非入侵式波形测量方法,它能从芯片的背面探测芯片内部节点的时序波形。完美 ...
  • 关键字: 可控发射  模拟电路  失效分析  

可靠性失效分析常见思路(二)

  • 2.3 失效树分析法  失效树分析法是一种逻辑分析方法。逻辑分析法包括事件树分析法(简称ETA)、管理失误 ...
  • 关键字: 可靠性  失效分析  

可靠性失效分析常见思路(一)

  • 失效分析在生产建设中极其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析结论要正确无误,改进措施要切实可行。   ...
  • 关键字: 可靠性  失效分析  
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