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制造测试 文章 进入制造测试技术社区

低功耗制造测试的设计

  • 关键字：低功耗 制造测试完全的数字电路测试方法通常能将动态功耗提高到远超出其规范定义的范围。如果功耗足够大，将导致晶圆检测或预老化(pre-burn-in)封装测试失效，而这需要花大量的时间和精力去调试。当在角落条
  • 关键字： 低功耗  制造测试    
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制造测试介绍

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