首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> 传输线脉冲测试系统(tlp)

传输线脉冲测试系统(tlp) 文章

带有硅化物阻挡层的可控硅器件对维持电压的影响*

  • 基于0.18 μm双极CMOS-DMOS(BCD)工艺,研究并实现了一种阳极和阴极两侧均加入硅化物阻挡层(SAB)的可控硅(SCR)器件,可用于高压静电放电保护(ESD)。利用二维器件仿真平台和传输线脉冲测试系统(TLP),预测和验证了SAB层对可控硅性能的影响。测量结果表明,在不增加器件面积的情况下,通过增加SAB层,器件的维持电压(Vh)可以从3.03 V提高到15.03 V。与传统SCR器件相比,带有SAB层的SCR器件(SCR_SAB)具有更高的维持电压。
  • 关键字: 可控硅(SCR)  硅化物阻挡层(SAB)  仿真  传输线脉冲测试系统(TLP)  维持电压(Vh)  202109  

利用TLP进行ESD保护元件的大电流性能鉴定

  • Ashton 博士说在正常工作条件下,ESD 保护元件应该保持在不动作状态,同时不会对电子系统的功能造成任何影响,这可以通过维持低电流以及足以在特定数据传输速率下维持数据完整性的低电容值来达成。而在ESD 应力冲击或
  • 关键字: TLP  ESD  保护  元件    

利用屏幕截图和TLP进行ESD保护元件的大电流性能鉴

  • Ashton 博士说在正常工作条件下,ESD 保护元件应该保持在不动作状态,同时不会对电子系统的功能造成任何影响,这可以通过维持低电流以及足以在特定数据传输速率下维持数据完整性的低电容值来达成。而在ESD 应力冲击或
  • 关键字: TLP  ESD  屏幕  保护    
共3条 1/1 1

传输线脉冲测试系统(tlp)介绍

您好,目前还没有人创建词条传输线脉冲测试系统(tlp)!
欢迎您创建该词条,阐述对传输线脉冲测试系统(tlp)的理解,并与今后在此搜索传输线脉冲测试系统(tlp)的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473