拟邀请部分企业

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主办:《电子产品世界》杂志社
时间:2013年11月13日 下午13:00-17:00
地点:上海新国际博览中心(W3馆-M10)
主题:助力“中国创造”的高性能测试仪器
测试仪器,作为测试技术中最重要的工具,一直是一个看似规模并不庞大,但影响深远的市场。据统计,虽然每年测试仪器的市场只占全球经济总量的万分之二,但是却带动着全球70%以上的经济增长,而对中国产业格局来说,测试仪器一直是电子产业中相对滞后的一环,仪器产业的滞后间接拖累了我国电子产业的高速发展。每个电子设计工程师离不开测试仪器,而测试仪器的设计同样需要广大电子工程师的参与。我们邀请广大电子工程师与我们一起,共同倾听众多半导体厂商最新的产品在电子测试仪器设计中的应用技巧与相关方案,并交流工程师的仪器设计需求,共同寻找最有针对性的设计解决方案。
时间 | 演讲题目 | 演讲人 |
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13:00-13:15 | 来宾签到 Registration | |
13:15-13:30 | 开幕致词 | 陈雯海 副总经理 中国电子器材总公司副总经理 |
13:30-14:00 | 本土测量仪器市场发展的机遇和挑战 | 崔建平 中国电子学会电子测量与仪器分会秘书长 |
14:00-14:30 | ADI精密仪器系统解决方案 | 李强 系统应用工程师公司 ADI |
14:30-15:00 | 1G/3G高速转换器的使用 | 王宗民 主任 北京时代民芯有限公司 |
15:00-15:30 | 通信集成电路设计中高速数字信号的测试验证及挑战 | 胡为东 市场经理 LeCroy |
15:30-16:00 | Xilinx FPGA在仪器仪表中的应用 | 赵红浪 高级工程师 安富利 |
16:00-16:30 | 传感器网络更新测量仪器概念 | 崔建平 中国电子学会电子测量与仪器分会秘书长 |
16:30-16:45 | 抽奖 |
(1)模拟前端在测试仪器设计中的重要意义与选型特殊需求
(2)ADC的性能对测试仪器信号捕获的价值及选型指导
(3)如何选择最适合的放大器及相关信号处理系统
(4)FPGA在测试仪器设计中的优势与应用实例
(5)测试仪器用操作系统应用指南
(6)信号分析与信号处理技术在不同测试仪器中的应用绍