高性能HBLED的测试 |
高亮度LED的高速测试 |
在研发实验室中，人们正研究采用新的III-V族材料和磷（用于白光）能否使得HBLED具有更低的生产成本和更好的性能。大家重点关注的指标包括更高的效率、更多的色彩、更大的电流密度和光输出、更好的封装和更强的冷却能力。这些目标对于用于照明的HBLED器件尤其重要，为了同时实现这些目标，这种器件的特征分析就显得尤为重要。本文介绍了HBLED测试方法、程序和解决方案。 
|
LED测试涉及各个生产阶段不同类型的测试序列，例如设计研发过程的测试、生产过程中的晶圆级测试、封装器件的终测等等。尽管一些具体的测试“处方”通常包括用于验证产品寿命或提取某些性能特征参数的多个步骤，但是它们超出了本应用笔记的范围。本文旨在提供这些处方所需“原料”的基本信息——说明如何探测二极管特征和范例测试配置的一些基本测试。本文还简要介绍了如何利用最新的测试技术提高测试产能并降低测试成本。
 |
|
| 优化HBLED的特性分析和测试的解决方案 |
吉时利最新产品2651A型高功率源表(System SourceMeter®)专门为高功率电子的特性分析而优化设计，提供业内可用的最宽电流量程。该量程对于研发、可靠性及生产测试应用至关重要，例如测试高亮度LED (HBLED)、功率半导体、DC-DC转换器、电池，以及其他高功率材料、元件、模块和组件。 |
应用:
- 功率半导体、HBLED和光器件特性分析和测试
- GaN、SIC及其他复合材料和器件的特性分析
- 半导体结温度特性分析
- 高速、高精度数字化
- 电迁移研究
- 大电流、大功率器件测试
|
-
源出或吸入：
- 2,000W脉冲功率(±40V，±50A)
- 200W直流功率(±10V@±20A、±20V@
±10A、±40V@±5A)
-
方便地连接两个单元(串联或并联)形成±100A或±80V解决方案
-
1pA电流分辨率，确保精密测量极低的漏泄电流
-
1μV电压分辨率(高达50A 电流源出）确保低电平Rds测量，支持新一代器件
-
在紧凑的机箱内(1U高)组合了全部三种仪器的功能：
- 半导体特性分析仪器
- 电压或电流波形发生器
- 电压或电流脉冲发生器
- 精密电源
- 真电流源
- 数字多用表(DCV、DVI、电阻和功率，分辨率达5-1/2位)
- 电子负载
- 触发控制器
|
|
|
