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测试测量技术发展趋势

作者:徐赟 NI中国技术市场工程师时间:2009-06-15来源:电子产品世界收藏

  现在,提供的R系列数据采集和FlexRIO产品家族将高性能的FPGA集成到现成可用的I/O 板卡上,供用户根据应用进行定制和重复配置,同时配合 FPGA直观方便的图形化编程,用户能够在无需编写底层VHDL代码的情况下,快速地配置和编程FPGA的功能,用于自动化测试和控制应用(见图3)。

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/95265.htm

  前段时间,欧洲核子研究中心(CERN)为世界最强大的粒子加速度器——大型强子对撞机(LHC)配备了超过120套带有可重复配置I/O模块的 PXI系统,用于控制瞄准仪的运动轨迹和监测其实时位置,从而确保粒子在既定的路径中运作。为了保证极高的可靠性和精确性,FPGA成为其必备的测试和控制技术。

  随着对FPGA技术应用复杂性的简化,可以预计,拥有高性能和灵活性的FPGA技术将越来越多地被应用于未来的仪器系统中。

  趋势四:无线标准测试的爆炸性增长

  近年来无线通信标准的发展可谓是日新月异,从2000年前只有四五种的无线标准到现在众多新标准如雨后春笋般涌现。越来越多的消费电子产品和工业产品都或多或少地集成了无线通信的功能,像苹果公司最新的3G版手机,更是同时集成了UMTS, , GSM, EDGE, Wi-Fi, GPS和蓝牙等多种最新的无线标准。这些都给无线技术的开发和测试带来了巨大的挑战,测试技术如何跟上无线技术的发展成为工程师面临的最大难题。通常传统射频仪器的购买周期是5~7年,而新标准和新技术的推出周期却是每两年一轮,购买的射频测试设备由于其固件和功能的限定通常难以跟上新标准的发展速度。



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