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测试测量技术发展趋势

作者:徐赟 NI中国技术市场工程师时间:2009-06-15来源:电子产品世界收藏

  趋势二:多核/并行测试带来机遇和挑战

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/95265.htm

  多核时代的来临已成为不可避免的发展趋势,双核乃至八核的商用PC现在已随处可见。得益于PC架构的定义的仪器,用户可以在第一时间享受到多核处理器为自动化测试应用带来的巨大性能提升。

  要充分发挥多核的性能优势,就必须创建多线程的应用程序,例如我们可以将自动化测试程序的数据采集、数据分析、数据记录乃至用户界面部分创建不同的线程,从而分配到不同的核上来并行运行。不过,这种并行的开发理念使得习惯于传统串行开发方式的工程师难以适应,尤其是当核的数目越来越多……

  挑战和机遇往往是并存的,作为图形化语言的代表,在设计当初就考虑到了并行处理的需求,从 5.0开始支持多线程到现在已有10多年的历史。通过自动的程序多线程化(见图2),开发人员可以无需考虑底层的实现机制,就可以高效地享用多核技术所带来的益处。

  无论是欧南天文台极大望远镜高达2700万次乘加运算的镜面控制,到Tokamak核聚变装置的实时处理运算,还是NASA的飞机安全性测试和TORC汽车控制快速原型设计,多核技术都为这些应用带来了巨大的性能和吞吐量的提升,随着多核技术的进一步发展,提升的幅度将更为可观。

  趋势三:基于FPGA的自定义仪器将更为流行

  随着设计和测试的要求越来越高,FPGA(现场可编程门阵列)技术正逐渐被引入到最新的模块化仪器中,这也就是我们所说的基于FPGA的自定义仪器。

  FPGA的高性能和可重复配置特性一直是硬件设计工程师们的最爱,而对于测试工程师而言,又何尝不想拥有硬件级的确定性和并行性呢?像诸如实时系统仿真、高速内存测试等应用都需要用到FPGA来确保响应的实时性和高速的数据流入和流出,FPGA的IP核更可以为工程师植入自主知识产权的算法提供契机。然而,苦于对硬件设计知识的缺乏和对VHDL或Verilog语言编程的恐惧,许多测试工程师对于FPGA技术望而却步。



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