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没有ATE生成向量的精密测试(04-100)

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作者:时间:2008-04-01来源:电子产品世界收藏


 

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/81046.htm

  在电平-1~3V和频率范围DC~100MHz检测共模信号。进入1个开路的共模信号抑制电平是400mVPK-PK。DC接入措施允许1个DC信号(一般从测试头得到)加到上。

  实现硬件特性是 Assist 工作中心软件,此软件为环路量差的设置和调试提供GUI设计。另附加的图像设备支持图像生成,抖动容差性能图动态的跟踪编程环路参量变化。

  和串行链路改变着测试前景,使测试成本大大降低。

   Assist用Rel4.3HP-UX11或Linux操作系统在93000 SoC Tester上运行。目标必须支持环回/BIST测试模式。■(冰)


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关键词: BIST DUT

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