合成仪器技术(04-100)
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在测量通路中，下变频器功能单元也许是最关键的元件。下变频器必须提供频率变换/滤波功能，通过混频和滤波组合正确地再生目标基带信号，此信号被调制在微波载波信号。若下变频器的变换丧失，则就不能精确地测定、设计和控制IF滤波和相关相位特性，不能适当地由A/D转换器数字化和分析IF信号，而且DSP软件将给出错误的结果。接收或测量处理通路中的A/D转换器是连续模拟和分立数字域之间的接口。ADC的工作范围往往是所执行测量性能的限制因素。在激励或上变频器通路，上变频信号的精确度依赖于所用D/A的带宽和动态范围。
从早期电子仪器复兴开始，测试测量业经受巨大变化。在过去60年内研制出针对商业和军事市场测试测量信号的各种各样的仪器。传统仪器(如数字多用表、电子计数器、示波器、功率器、函数发生器和网络分析仪)以其本身特点出现在市场上。每种仪器都用专门和/或稍微不同的激励/测量电路和技术设计。这种传统的方法主要依赖于由专门硬件实现的仪器激励/或测量能力。
除了这些仪器前端的通用性外，很难看到激励/测量技术的再用。硬件的顶层是嵌入式软件层(通常连接到原来设计的目标嵌入式控制器)。嵌入式软件的顶层是应用软件，其大多数的部分功能如同图像用户接口(GUI)或已定标/换算/转换数据的显示。
基于SI的ATS(自动测试系统)变成完全颠倒的传统模型(见图3)。合成硬件结构由标准硬件(信号调理、上变频器、下变频器、DAC、ADC)组成，标准硬件与不受限制的DSP软件结合工作。这种硬件减少，使系统定标的要求和成本最小，系统定标容易受SI激励和测量通路中每个功能块所具有的检查方法和控制性的影响(见图4)。
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