用开放测试平台R&S CompactTSVP快速实现数字功能性测试

借助罗德与施瓦茨公司基于PXI的生产测试平台R&S CompactTSVP的新选件，即使在需要进行大量数据运算的领域，快速数字功能性测试也可以实现。全新的高速数字测试模块R&S TS-PHDT支持高达40MHz的数据速率以及1.5GB的存储容量。测试电子组件所需要的激励信号、期望值以及实测值都可以存储在本地。由于模块内部能实时对比实测值与期望值，记录的测试数据不再需要传送到系统控制器，因此节约了大量的测试时间。

R&S TS PHDT，这个小巧的测试模块是由罗德与施瓦茨公司和Atmel（半导体生产商的领导者之一）的射频与汽车业务部紧密合作共同开发的；是专为电子组件日趋复杂的数字电路的功能测试而设计的。另外，测试与测量仪器也必须满足当前技术对记忆深度、实时性以及等级编程的需求。而R&S TS PHDT则是市场上第一款基于PXI的满足此类应用的解决方案。 

在功能测试的初始化时，首先，针对该被测件（DUT）的所有激励信号的参数以及期望值都被一次性的传送到测试模块内部1.5GB的存储介质上（3 linux操作系统文章专题:linux操作系统详解（linux不再难懂）