PXI加入战局，ATE全面模块化时代到来

半导体测试ATE是整个测试系统中最为精密的一个环节，也是最具市场价值的测试应用领域之一，相比于几万块钱规模的自动化测试系统，动辄百万的半导体测试ATE从技术上就限制了很多玩家的进入。当然，庞大的系统有自己固有的问题，就是设备的使用成本过于昂贵，基于这样的需求，NI的PXI技术寻找了市场的切入点技术找到了市场的切入点。

在快速变迁的市场环境下，设备性能不断挑战着ATE系统功能的极限，测试设备的淘汰速度加快，测试成本也随之增加，因而需要与日益严苛的性能需求保持同步。 成本效益是NI吸引半导体测试客户的最大亮点，NI基于PXI的半导体测试系统(STS)通过在半导体生产测试环境中引入NI和工业标准的PXI模块降低了射频和混合信号设备的测试成本。与传统半导体自动化测试设备(ATE)相比，NI STS前沿用户正在获益于降低的生产成本和提高的吞吐量，并且可使用相同的硬件和软件工具中进行特征性测试和生产。特别是对于混合信号测试，基于PXI的NI STS相比传统ATE，以非常低的成本提供了最佳测试覆盖率。
 
NI STS的开放模块化架构使得工程师能够使用最前沿的PXI仪器，这是采用传统具有封闭结构的ATE无法实现的。这对于RF和混合信号测试尤其重要，因为最新半导体技术要求的测试覆盖率往往超越了传统ATE所能提供的。NI STS结合了TestStand测试管理软件和LabVIEW系统设计软件，具有一组针对半导体生产环境的丰富功能，包括可定制的操作界面、分选机/探针集成、具有引脚-通道映射且以设备为中心的编程、标准测试数据格式（STDF）报告以及集成式多点支持。

据NI中国自动化测试产品市场经理陈宇睿介绍， NI半导体测试系统(STS)的开放式PXI架构提供了客户所需的灵活性，借助该架构，客户能够重新配置和扩展测试平台来满足不断提高的性能需求，而且可以沿用原有的投资设备，而不需要像传统ATE系统那样，除了得淘汰旧设备之外除了需要淘汰旧设备之外，随着测试系统持续改良，通常还需要高成本、大规模的测试车间重新启动作业。 IDT定时业务部门的测试演变正好成为这一产品应用的典型案例。 一开始IDT使用昂贵的现成ATE系统。 很快便发现这么做的成本太高，所以IDT决定自行开发测试系统。 但是这又面临新的问题，那就是硬件的淘汰率很高，而每次硬件的更新都需要重新设计整个系统，他们内部支持团队的人力支持也非常有限。最理想的解决方案就是开发或寻找一种基于开放式架构的测试平台，可以让用户继续利用测试装置，以原有的投资为基础开发所需的系统，而非外加新功能，或是重新购买昂贵的大型ATE系统。 IDT需要的架构必须能够应对硬件淘汰的问题，而且还可以随着技术的发展重新开发。   NI STS正好就是这种架构。NI STS的PXI平台非常适合解决上述问题。 该系统在单个测试主机内容纳了多个PXI 机箱，提供了扩展功能，使得用户可在测试仪内部添加更强大的测试功能。 灵活的PXI开放式标准可以让用户根据需求选择不同厂商的仪器，而不必受限于单个ATE硬件厂商所提供的有限产品。

其实模块化在半导体ATE市场的玩家并不仅是NI一家，传统巨头爱德万也将模块化理念带入自己的物联网芯片测试解决方案中，当然相比于NI具有的PXI技术，爱德万则是用插卡式模块组合不同的测试系统以降低客户测试的成本并提高灵活性。也许对于NI杀入半导体测试ATE市场的评价中，爱德万的态度最为中肯“这个市场并不能拒绝外来者，NI的加入不会动摇爱德万在这个领域的优势地位，但给这个市场带来了全新的竞争思维，并且会非常有效的提升这个市场的技术演进”。