生产制造过程的低功耗测试方法

除了DFT方法之外，商用化ATPG工具现在也考虑到了具有功率意识的测试波形生成功能。ATPG图案主要针对图案生成时的一个或一组故障。不会使控制状态发生冲突的波形可以被合并成统一的一个波形，这被称为波形压缩。当压缩完成时，一般不到3%的控制点会包含特定的值，这些值确定了针对目标故障的测试。这些确定的控制点称为关注位。剩余控制点(称为非关注位)可以用默认随机逻辑数填充。这些随机值偶尔可以用来测试不作为波形目标的故障。

这种非关注位的随机值填充将导致扫描期间发生约50%的设计扫描触发器开关动作。商用化ATPG工具提供的电源管理技术具有调整默认随机填充的波形生成功能。重复填充方法则重复最后关注位，直到遇到另外的关注位，从而可确保扫描转移加载期间的开关动作大大减少。无论使用哪种方法都可以获得同样的故障覆盖率。

例如，如果ATPG图案是0XXXX110XXXX11XXXX11，其中X代表非关注位，那么随机填充可能导致最终波形变成01010110101011010111，而重复填充变成01111110111111111111。随机填充有15反转，而重复填充只有3位反转，因此在扫描链转移期间反转率明显降低。为了避免开关动作减少得太多，另外一种方法是在对剩余位应用重复填充之前增加随机位来增加开关动作。一些ATPG工具提供对波形的更多自动化控制，可避免造成IC的应力不足。
电源器件测试

为了解决功能性操作过程中的功耗问题，包括多路电压(MSV)和电源关闭(PSO)在内的许多架构级电源管理技术正得到越来越广泛的应用。这种技术可以提供高达80%的动态功率降低和几个数量级的漏电功率下降。这些设计具有多种电源模式，设计的不同区域(也称为域)可以处于不同的电源模式。

从DFT角度看，当内部扫描链、测试压缩、存储器BIST等测试结构被插入到这种设计中时，它们必须能在目标电源模式下工作。在以对应电源模式的测试模式测试芯片时，测试结构和实现与保持不同电源模式的控制器宏应该在测试仪上完全可控。

许多传统测试解决方案“不计较”这些低功率特性，并在所有域的电源接通条件下做测试。而在具有功率意识的测试方法中，设计的功能性电源模式被映射到ATPG测试波形。映射必须做到包含至少一个处于“开”状态的每个电源域的实例，这种状态允许以在用逻辑故障为目标，同时测试电源域隔离逻辑，并进行“开状态”验证。同样，还需要包含至少一个处于“关”状态的每个电源域的实例，用于验证和测试生成。

另外一个考虑因素是测试电源器件结构，包括电源控制器、电源开关和状态保持(SR)触发器，以及用于功能性电源管理的结构。在制造测试期间，必须对这些低功率器件中的缺陷进行精确建模和测试。例如，传统的结构化测试不足以测试支持电源关断和模式转换的逻辑，因为传统的ATPG和故障模型不足以解决处于断电中的逻辑问题。例如，在关断包含一个SR单元的域的电源后，由于SR单元不能保持最初加载的状态，SR单元可能无法正常工作。目前商用DFT和ATPG工具都支持具有功率器件意识的测试。

本文小结

制造测试期间的功耗潜在影响不能再被忽视了。许多IC设计团队的经验表明，好的工程规划、并行机制以及具有功率意识的DFT、ATPG和签字确认工具可以减轻测试低功率架构和元件过程中遇到的测试功率问题。本文重点介绍了几种实用的DFT和AFPG技术。随着低功率电子器件的快速发展，DFT和ATPG领域中将涌现出更多创新技术、工具和绝佳实用方法。

表1：使用测试波形电源管理技术的低功率扫描与传统扫描过程中开关功率的比较。