向FPGA内植入嵌入式软核的电容在线测试电路
串行输入方式，在W_CLK上升沿把数据位D7的一位数据串行输入，当输入40位后，用一个FQ_UD脉冲即可更新输出频率和相位。图4为DDS硬件电路图。本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/226816.htm
其中，D0~D7为八位数据输入端口，给内部寄存器装入40位控制数据，本文采用串行输入，所以只用到D7位与FPGA相连；CLKIN为外部参考时钟输入，本设计采用100M外部时钟输入；W_CLK为字输入信号，上升沿有效;FQ_UD为频率更新控制信号，时钟上升沿确认输入数据有效；VINP和VINN分别为内部比较器的正负输入端；IOUT为内部DAC输出端；IOUTB为“互补”DAC输出端；AVDD和DVDD采用+5V供电。IOUT输出信号经过滤波器后作为测试电路的激励信号。
4.测试结果与结论
经过上述系统设计，试验测得的结果如表1所示。
结果中*表示数据不停变化或者结果超出量程。
通过上述实测值与标准值的比较可以看出本文设计的由FPGA控制的电容在线测试系统具有多量程自动选择，测试精度高，使用方便等特点，测试范围达到0.01μF~3μF.经理论分析和试验证明，该设计具有很强的实用性和可靠性。
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