单片机系统中RAM的测试方法研究

2 基于种子和逐位倒转的RAM测试方法

基于种子和逐位倒转的测试方法是在方法3的基础上进一步改进获得的。方法3主要是使用全O和全1两个背景数来移位展开的，与MARCH—G算法相比获得的故障覆盖率稍微低些，但使用了较少的地址单元。这里我们把方法3中的背景数称为“种子”。以地址线为8根的RAM为例，种子分别取00000000和11111111两个数，取00000000、11111111、0000llll和llll0000四个数，以及取00000000、11111111、00001111、11110000、00110011、1100llOO、01010101和10101010八个数来移位展开测试，所达到的故障覆盖率是不一样的。种子数为2的改进方法要低于MARCH—G算法的故障覆盖率，种子数为4的改进方法与MARCH—G算法相当，种子数为8的改进方法能够超过MARCH—G算法的效果。整体上基于种子和逐位倒转的改进方法是可以代替MARCH—G算法的，但是种子数目不同所需要的寻址次数也是不同的。设地址线为n根，种子数为2时需要访问RAM共计4”+4次，种子数为4时需要访问RAM共计8n+8次，种子数为8时需要访问RAM共计16n+16次，而MARCH—G算法需要访问RAM共计6×2n次。可见，基于种子和逐位倒转的改进方法比MARCH—G算法的测试时间开销大大降低。同时，故障覆盖率会随着种子数目的增加而提高，当然不同种子数时所需要的测试时间开销也不同。在实际测试应用中要根据测试时间和测试故障覆盖率的需求来选择合适的种子数目，才能达到满意的效果。

结 语

本文介绍了单片机系统RAM测试的一般方法，并在原有基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。它具有诊断耗时短、故障覆盖率高的特点，因而有着很高的应用价值。