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> 晶圆级可靠性测试:器件开发的关键步骤(二)
晶圆级可靠性测试:器件开发的关键步骤(二)
作者:
时间:2013-11-30
来源:网络
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为应力加载时间的函数作图。所有的应力偏压和测量都是在高温(例如,135℃)下完成。
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晶圆级
可靠性测试
器件开发
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