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温度继电器温度特性测试设备研制

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作者:刘超 罗元春时间:2013-12-26来源:电子产品世界收藏
编者按:本文详细介绍了温度继电器温度特性测试设备的主要功能及工作原理,重点阐述了控制过程分析和软件设计的实现方法。

  测试要求

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/203225.htm

  GJB 1517A—2011《恒温通用规范》空气测定法要求:应放在一个循环空气箱内。为了监测触点的工作,应接到一个合适的指示电路中。当温度分别在动作和回复温度范围±2.8 ℃以内时,温度变化的速率应不大于0.55 ℃/min。为了减少温度读数视差错误,继电器应循环三次,但每次读数都应在详细规范规定的公差之内,而且每次循环都应记录动作和回复温度。各自三次读数的平均值即为动作和回复温度点。

  控制过程分析

  升温过程

  系统的比较理想的升温过程温度曲线如图2所示。其中

  minT=actT-errT-2.8
  maxT=actT+errT+2.8

  式中 minT—最低控温点

  maxT为最高控温点,actT为动作温度点,errT为动作温度整定值。

  (1)在时间段0~t1内,为非算法控制阶段,输出的导通时间为全周期,在此时间段内控制的目标温度为minT。
  (2)从实际温度达到需要进行控制的温度ctrT(   (3)经过t1~t2时间段内的预备控制调整,当温度上升到minT,即运行进入t2~t3时间段时,系统已经比较稳定,温升速度可以较好地控制到要求0.50℃/min左右。
  (4)当realT(实际温度)大于maxT后,即待测温度继电器在升温过程中理论上都已应该动作过一次了,也即升温测试过程已可以结束了,所以不再需要用PID控制,只需全功率加热,达到一定温度后就可进入降温测试过程。

  降温过程

  当realT(实际温度)达到一定温度(downT)后系统进入到降温测试过程,因为此时系统的温度与highT偏差不大,为了保证系统进入lowT~highT范围内以后不出现大的超调,此时就开始用PID算法进行控制。系统的比较理想的降温过程如图3所示。

  (1)在时间段t4~t5内,控制的温度目标为highT。
  (2)经过t4~t5时间段内的预备控制调整,当温度下降到highT,即运行进入t5~t6时间段时,系统已经比较稳定,降温速度可以较好地控制到要求0.30℃/min左右。
  (3)当温度达到lowT后,即降温测试过程已经结束,可以不必进行严格的控制了,只需全功率制冷(关加热器)至室温。如果没有进行过升温测试过程的话,降到较低温度后再进入升温测试过程。

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