Teledyne e2v的四通道ADC为5G NR ATE和现场测试系统的自动校准测试测量带来重大变革

作者：时间：2020-07-24来源：电子产品世界收藏

编者按：无线技术在过去的20年里快速从3G发展到4G，现在已到了5G的时代。有一个技术问题一直贯穿这一发展的过程，即高频器件的自动校准测试。 RF ATE和现场测试系统面临的最困难的挑战是校准、可重复性和测试结果的关联度。未来的无线技术的发展需要5G NR器件。Teledyne e2v的四通道多输入端口ADC利用非并行片上高频交叉点开关输入电路技术，使用户可在RF ATE和/或现场测试环境中使用自动校准和测量技术。

本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/202007/416082.htm

已安装的电信设备的自动校准5G NR ATE系统/现场测试

图8是同时测量多端口DIB/DUT输入/输出以完成自动校准测量和原始测试测量流程的简化框图。CPS被设置成4通道模式，每个独立采样的ADC通道最大支持1.6 Gsps的采样率。多端口DIB/DUT也可代表已安装的电信系统的测试/测量点。在4通道模式下，ADC(A, B, C, D)同时测量DIB/DUT或现场测试系统的RF吞吐端口、端口1、端口2和RF输出端口。这种配置可同时测量每个端口，数据可被用作“校准误差测量值”和/或“原始测试测量值”。最终的测试测量值可通过从原始测试测量值中减去端口校准误差得出。

此外，EV12AQ605包含一个“多ADC链式同步功能”，可为这种多端口测试测量带来更大的设计灵活性。4个ADC核心的链式同步功能（时钟树和数字复位）可自动调整多个ADC的采样时序/相位并重对齐，支持实时测量修正。ADC的链式同步功能使这一4通道系统可被扩展为8, 12, 16或更多通道的系统。

图8 简化框图：同时多端口自动校准误差测量和原始测试测量

独特的带CPS的四通道ADC(EV12AQ605和EV10AQ190)为5G NR ATE系统和电信设备的现场测试加入自动校准测试和测量的功能

EV12AQ605是一款四通道12位1.6 Gsps的ADC。内置的交叉点开关(CPS)可切换多个工作模式，从而交织4个独立的核心实现更高的采样率。在4通道工作模式下，4个核心可以1.6 Gsps的采样率同相位采样4个独立的输入。在2通道工作模式下，核心可两两交织，实现每个输入端3.2 Gsps的采样率。在1通道模式下，单个输入连接到交织的4个核心，实现6.4 Gsps的采样率。这种高度的灵活性使用户可在3.2 GHz的瞬时带宽内实现RF（和IF）的数字化。EV12AQ605的扩展输入带宽超过6 GHz(EFPBW)，允许C波段(4-8 GHz)的信号直接采样，无需使用下变频器将信号转换到基带。这款ADC包含多个ADC链式同步的功能，可用于多通道系统的设计。它的封装是使用HiTCE玻璃陶瓷材料的非密封型倒装封装，可优化RF性能，支持较高的管脚密度。

与本文介绍的主题相关的一个重要的性能指标是通道间隔离度或串扰。大的串扰会给ADC增加额外的误差并影响结果。可以通过与其他噪声源类似的自动校准的流程修正这种误差。图10表明，EV12AQ605拥有世界领先的串扰性能，其引入的额外噪声影响不大。

图9: EV12AQ605框图

EV10AQ190是类似的早期的10 bit的ADC版本，也集成了交叉点开关。两者的性能概述请参考下表：

图10: EV12AQ605的串扰性能

结论

随着5G NR网络在世界范围的普及，高频器件的自动/校准高速测量是一个关键的问题。校准、可重复性和测量值的相互关联是5G NR ATE和现场测试系统面临的巨大挑战。这些问题和总体测试速度以及吞吐量直接关联，影响解决方案的效率和性能。Teledyne e2v的四通道多输入端口ADC使用非并行的片上高频交叉点开关输入电路技术，在5G NR ATE和/或现场测试环境中为器件（单个或多端口）的测试提供自动校准和测量的解决方案。