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挑战传统ATE,测试厂商发力半导体测试

作者:时间:2017-06-19来源:EEPW

作为专攻测试行业的媒体人,我喜欢经常面对各个主要测试行业的领导层,探寻他们对整个测试市场发展的观点和企业动向。坦白说,技术未动测试先行,这原本是测试测量存在的最基本价值,但是对有些应用来说似乎并非如此,这个应用具体到2017年就是

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/201706/360682.htm


2017年春天开始,笔者有幸每个月接触一家测试巨头的高管,谈论2017中国市场的热点时,是被提及的最多的一个,也是最让很多人意外的一个。毕竟相比于已经热得倦怠了的物联网,火的快焦了的云技术,还有谁都不想错过的汽车电子,绝对不是一个新话题,这是一个伴随着半导体一同出现已经年逾花甲的应用领域了,但是2017年这个热点在中国被诸多测试厂商频繁提起,所不同的是,这次的关键点已经不再是传统的Fab和产线上的基台测试,而是更贴近半导体设计者的半导体芯片性能测试。


中国政府对集成电路产业的大力扶持,让这些测试企业看到了一个庞大的市场机遇,中国的半导体测试需求特别是芯片端的测试需求将在未来几年持续两位数的增长,测试复杂度也逐渐向国际领先水平靠近,这就产生海量的测试设备和测试系统需求。无论是泰克全球CEO还是是德科技中国区总裁,都将半导体测试列为其在中国市场四大热门应用之一,虽然实现的方式不同,但针对半导体测试优化原有的测试设备和测试功能,成为两大台式仪器巨头默契的选择。


当然,对半导体测试特别是复杂的混合信号SoC芯片测试来说,传统的台式仪器受到不少的局限,灵活性在其中显得尤为重要,毕竟即使如爱德万这样的半导体测试巨头,为了应对更多的混合信号和物联网半导体芯片测试需求,近两年不断推出模块化的产品以提升测试设备的灵活性和针对性,降低客户测试芯片的系统整体成本。不过相比上述几家老牌测试巨头,美国国家仪器()在半导体测试方面的战略显得更具侵略性,他们基于的半导体测试系统(STS)将模块化系统的优势发挥到极致,引导着半导体测试向全新的方向前进。


半导体特别是芯片级测试的复杂度随着芯片性能不断强大和芯片组包含的功能越来越多呈级数级增加状态,在这一前提下,半导体芯片的整体开发成本和研发时间中很大一部分被测试和验证所占据,如何能缩短芯片功能测试占据的时间和成本就变得非常具有市场价值。传统的测试覆盖率通常无法满足最新半导体设备的要求。通过将半导体行业成熟的数字测试模式引入到基于开放平台的半导体测试系统(STS),并使用功能强大且人性化的编辑器和调试器进行优化,用户可以利用先进的仪器来降低射频和模拟IC的测试成本并提高吞吐量。


在半导体测试方面很早就有相关的产品,只不过早期都是跟客户共同开发相应的测试系统,因为传统的无法满足模拟和射频及混合信号芯片的多种测试需求,如果要测试需要高昂的成本并且涉及到复杂而巨大的测试设备,这对于半导体芯片设计企业来说显然是个矛盾的选择,借助在PXI方面的经验,半导体芯片厂与NI共同在PXI的平台上进行相应的测试系统的研发,解决了采用传统具有封闭结构的无法实现的的功能,这对于RF和混合信号测试尤其重要,因为最新半导体技术要求的测试覆盖率往往超越了传统ATE所能提供的。

当然,并不是每个客户都具有自己搭建测试系统的能力,而且测试系统搭建之后,对后期的运作和技术支持都是个不小的现实问题,在这一基础上,NI推出了相应的半导体测试系统(STS),可以提供给不同类型客户,满足其各种半导体测试的需求。NI STS结合了TestStand测试管理软件和LabVIEW系统设计软件,具有一组针对半导体生产环境的丰富功能,包括可定制的操作界面、分选机/探针集成、具有引脚-通道映射且以设备为中心的编程、标准测试数据格式(STDF)报告以及集成式多点支持。

成本效益是NI吸引半导体测试客户的最大亮点,NI基于PXI的半导体测试系统(STS)通过在半导体生产测试环境中引入NI和工业标准的PXI模块降低了射频和混合信号设备的测试成本。与传统半导体自动化测试设备(ATE)相比,NI STS前沿用户正在获益于降低的生产成本和提高的吞吐量,并且可使用相同的硬件和软件工具中进行特征性测试和生产。特别是对于混合信号测试,基于PXINI STS相比传统ATE,以非常低的成本提供了最佳测试覆盖率。据NI大中华区技术经理Fred介绍,NI半导体测试系统(STS)的开放式PXI架构提供了客户所需的灵活性,借助该架构,客户能够重新配置和扩展测试平台来满足不断提高的性能需求,而且可以沿用原有的投资设备,而不需要像传统ATE系统那样,除了得淘汰旧设备之外除了需要淘汰旧设备之外,随着测试系统持续改良,通常还需要高成本、大规模的测试车间重新启动作业。


目前,NI的半导体测试系统主要针对芯片设计客户,特别是针对射频模拟、MEMS、SSD和传感器等领域推出了相应的解决方案,而NI的STS不仅可以单独帮助客户解决相应的测试问题,还可以发挥PXI灵活可扩展的特点,可以与传统的ATE测试设备协同工作,不仅保持了客户原有的投资,还能借助PXI平台快速而便宜的扩展更多全新的芯片测试的需求。




关键词: ATE PXI NI 半导体测试

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