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浅谈TD-SCDMA智能天线基本原理和测试方法

作者:时间:2017-02-27来源:网络收藏




图9智能天线端口1的有源反射系数(k*d*sinθ=π/3条件下)

其中:k=2*π/λ,d=相邻天线单元的间隔(此两项为常量);

θ为智能天线合成波束的扫描角(此项为变量)



图10智能天线端口1的有源反射系数(k*d*sinθ=π/5条件下)

其中:k=2*π/λ,d=相邻天线单元的间隔(此两项为常量);θ为智能天线合成波束的扫描角(此项为变量)。

由图9,图10可知,利用ZVT的8端口和强大的TraceMath功能,可以实时的显示任意扫描角下的各端口有源反射系数,为智能天线系统的研发和生产测试提供了极大的便利。

4结束语

智能天线比普通天线复杂得多,对智能天线系统的性能评估也比较复杂。在研发和生产阶段必须对智能天线进行全面测试,这样才能对其性能进行全面的考核,将智能天线的优势发挥出来。使用一般的2端口或4端口矢网很难全面、快速地测试智能天线。而R&S的ZVT独具8个端口,并有强大的TraceMath功能,因此能满足智能天线的测试需求,能帮助天线厂家对其智能天线进行快速、全面的测试。


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